用于生产缐质量控制的一体化解决方案
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LumiTop 显示屏生产测试
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系统介绍
系统配置
测量应用
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系统配置
测量应用
一个测试站 – 三个传感器 – 所有测试
LumiTop 系列显示幕测试系统针对生产品质控制而优化。该系统包含一个 LumiTop 成像色度测量仪、一个 CAS 系列高端光谱仪和一个光电二极体。通过这种组合方式，可在一个
测试站执行所有相关光学测试。较重要的测试变数包括：
- 显示幕均匀性测量（亮度和色度）
- 缺陷检测 (Mura)
- 伽马指数测定
- 闪烁和亮度调节
这个创新概念支持同时测量所有三个感测器，由于光谱参考测量，不仅保证了较短的测量时间，而且保证了绝对高的精度。无论样本采用何种显示幕技术，都可使用 LumiTop 测量解决方案。该方案特別适合测量复杂的新显示幕技术，如 OLED 或 µLED 显示幕。
LumiTop 成像色度测量仪提供三个版本，並具有 6 MP 至 150 MP 的颜色感测器。通过图元移位元器，可进行亚图元分析，例如使用 LumiTop X150 时，每颜色通道解析度为 600 MP。
关键特性：
- 标准光谱仪使二维测量达到超高准确性
- 较短的测量时间
- 同时测量闪烁或亮度调节
- 用于所有相关光学测试的一体化测量解决方案
- 可轻松集成到生产缐
- 绝对精度：无需标准样本校准
- 带 6、12 和 150 MP 颜色感测器的成像色度测量仪
测量挑战：高性能和生产适宜性
对用于显示幕品质控制的测试系统通常有非常严格的要求：
- 高精度、再现性和可靠性
- 坚固可靠，可在恶劣的生产条件下使用
- 长时间全天候运行
- 测量时间短，遵守高週期时间
- 轻松集成到生产缐
Instrument Systems 通过其智慧 LumiTop 测量概念满足这些要求，所有相关光学生产测试均在一个测量站中进行。多年来，LumiTop 系统一直在许多着名显示幕制造商的生产设施中进行试验和测试，设立了全球标准。
系统配置
LumiTop 系列中的完整系统通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|
阵列光谱仪 |
频谱范围为 360-830 nm 的 CAS 140CT-151 (VIS) 或 CAS 140D-151 (VIS) |
|
LumiTop 成像色度测量仪 |
- 带 600 万图元 RGB 摄像机的 LumiTop 2700 - 带 1200 万图元 RGB 摄像机的 LumiTop 4000 - 带 1500 万图元 RGB 摄像机的 LumiTop X 150 |
|
软体 |
用于测量显示幕的丰富的 LumiSuite 实验室软体，用于将硬体轻松集成到生产缐的软体发展套件 (SDK) |
|
校准 |
Instrument Systems 进行的校准可追溯到国家标准。 光谱仪：亮度和辐射校准。 在客户特定的几何结构中对装置进行完整特性测定 - 无需用户校准！ |
|
ACS 150 |
用于生产缐审查的 LED 光源 ACS 150。 |
|
ACS 585 |
用于生产缐审查的 LED 亮度标准。 |
|
对摄像头和光谱仪实施审查 |
用于对亮度和色座标测量精度进行来料检验的全套设备（LumiTop 2700、CAS 140CT、CAS 140D）。 |
|
可回收包装 |
适合在室内使用的干净的可回收包装，用于在生产设施内运输摄像机/光谱仪。 |
产品
LumiTop 显示屏生产测试
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
CAS 125
用于精密和时间关键型测量任务的阵列光谱仪
LumiTop 2700 / 4000
用于显示屏生产的成像光度和色度测量仪
LumiTop X150
用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiSuite
用于确定显示屏特性的专业软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
产品
LumiTop 显示屏生产测试
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
CAS 125
用于精密和时间关键型测量任务的阵列光谱仪
LumiTop 2700 / 4000
用于显示屏生产的成像光度和色度测量仪
LumiTop X150
用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiSuite
用于确定显示屏特性的专业软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
CAS 125
用于精密和时间关键型测量任务的阵列光谱仪
LumiTop 2700 / 4000
用于显示屏生产的成像光度和色度测量仪
LumiTop X150
用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiSuite
用于确定显示屏特性的专业软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
CAS 125
用于精密和时间关键型测量任务的阵列光谱仪
LumiTop 2700 / 4000
用于显示屏生产的成像光度和色度测量仪
LumiTop X150
用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiSuite
用于确定显示屏特性的专业软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
CAS 125
用于精密和时间关键型测量任务的阵列光谱仪
LumiTop 2700 / 4000
用于显示屏生产的成像光度和色度测量仪
LumiTop X150
用于像素级质量控制的超高分辨率、一体化解决方案
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiSuite
用于确定显示屏特性的专业软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
