用於生產線質量控制的一體化解決方案
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LumiTop 顯示屏生產測試
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系統介紹
系統配置
測量應用
系統介紹
系統配置
測量應用
一個測試站 – 三個傳感器 – 所有測試
LumiTop 系列顯示幕測試系統針對生產品質控制而優化。該系統包含一個 LumiTop 成像色度測量儀、一個 CAS 系列高端光譜儀和一個光電二極體。通過這種組合方式，可在一個
測試站執行所有相關光學測試。較重要的測試變數包括：
- 顯示幕均勻性測量（亮度和色度）
- 缺陷檢測 (Mura)
- 伽馬指數測定
- 閃爍和亮度調節
這個創新概念支持同時測量所有三個感測器，由於光譜參考測量，不僅保證了較短的測量時間，而且保證了絕對高的精度。無論樣本採用何種顯示幕技術，都可使用 LumiTop 測量解決方案。該方案特別適合測量複雜的新顯示幕技術，如 OLED 或 µLED 顯示幕。
LumiTop 成像色度測量儀提供三個版本，並具有 6 MP 至 150 MP 的顏色感測器。通過圖元移位元器，可進行亞圖元分析，例如使用 LumiTop X150 時，每顏色通道解析度為 600 MP。
關鍵特性：
- 標準光譜儀使二維測量達到超高準確性
- 較短的測量時間
- 同時測量閃爍或亮度調節
- 用於所有相關光學測試的一體化測量解決方案
- 可輕鬆集成到生產線
- 絕對精度：無需標準樣本校準
- 帶 6、12 和 150 MP 顏色感測器的成像色度測量儀
測量挑戰：高性能和生產適宜性
對用於顯示幕品質控制的測試系統通常有非常嚴格的要求：
- 高精度、再現性和可靠性
- 堅固可靠，可在惡劣的生產條件下使用
- 長時間全天候運行
- 測量時間短，遵守高週期時間
- 輕鬆集成到生產線
Instrument Systems 通過其智慧 LumiTop 測量概念滿足這些要求，所有相關光學生產測試均在一個測量站中進行。多年來，LumiTop 系統一直在許多著名顯示幕製造商的生產設施中進行試驗和測試，設立了全球標準。
系統配置
LumiTop 系列中的完整系統通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|
陣列光譜儀 |
頻譜範圍為 360-830 nm 的 CAS 140CT-151 (VIS) 或 CAS 140D-151 (VIS) |
|
LumiTop 成像色度測量儀 |
- 帶 600 萬圖元 RGB 攝像機的 LumiTop 2700 - 帶 1200 萬圖元 RGB 攝像機的 LumiTop 4000 - 帶 1500 萬圖元 RGB 攝像機的 LumiTop X 150 |
|
軟體 |
用於測量顯示幕的豐富的 LumiSuite 實驗室軟體，用於將硬體輕鬆集成到生產線的軟體發展套件 (SDK) |
|
校準 |
Instrument Systems 進行的校準可追溯到國家標準。 光譜儀：亮度和輻射校準。 在客戶特定的幾何結構中對裝置進行完整特性測定 - 無需用戶校準！ |
|
ACS 150 |
用於生產線審查的 LED 光源 ACS 150。 |
|
ACS 585 |
用於生產線審查的 LED 亮度標準。 |
|
對攝像頭和光譜儀實施審查 |
用於對亮度和色座標測量精度進行來料檢驗的全套設備（LumiTop 2700、CAS 140CT、CAS 140D）。 |
|
可回收包裝 |
適合在室內使用的乾淨的可回收包裝，用於在生產設施內運輸攝像機/光譜儀。 |
產品
LumiTop 顯示屏生產測試
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 125
用於精密和時間關鍵型測量任務的陣列光譜儀
LumiTop 2700 / 4000
用於顯示屏生產的成像光度和色度測量儀
LumiTop X150
用於像素級質量控制的超高分辨率、一體化解決方案
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
LumiSuite
用於確定顯示屏特性的專業軟件
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
產品
LumiTop 顯示屏生產測試
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 125
用於精密和時間關鍵型測量任務的陣列光譜儀
LumiTop 2700 / 4000
用於顯示屏生產的成像光度和色度測量儀
LumiTop X150
用於像素級質量控制的超高分辨率、一體化解決方案
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
LumiSuite
用於確定顯示屏特性的專業軟件
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 125
用於精密和時間關鍵型測量任務的陣列光譜儀
LumiTop 2700 / 4000
用於顯示屏生產的成像光度和色度測量儀
LumiTop X150
用於像素級質量控制的超高分辨率、一體化解決方案
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
LumiSuite
用於確定顯示屏特性的專業軟件
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 125
用於精密和時間關鍵型測量任務的陣列光譜儀
LumiTop 2700 / 4000
用於顯示屏生產的成像光度和色度測量儀
LumiTop X150
用於像素級質量控制的超高分辨率、一體化解決方案
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
LumiSuite
用於確定顯示屏特性的專業軟件
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 125
用於精密和時間關鍵型測量任務的陣列光譜儀
LumiTop 2700 / 4000
用於顯示屏生產的成像光度和色度測量儀
LumiTop X150
用於像素級質量控制的超高分辨率、一體化解決方案
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
LumiSuite
用於確定顯示屏特性的專業軟件
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用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
