高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
產品
CAS 140D
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系統範例
搭載CAS 140D
色度計及光譜儀查核
驗證亮度和色彩精度
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量
潛望鏡式設計，實現 AR/VR頭戴式裝置雙眼測量
MultiCAS 測試系統
同步控制多個 CAS 光譜儀
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
儀器介紹
測量應用
技術數據
儀器介紹
測量應用
技術數據
CAS 140D – 高精度光測量的公認標準
Instrument Systems 的高端 CAS 140D 陣列光譜儀被視為弱光源和高輻射度的高精度光譜光測量技術的基準。
該產品基於久經考驗的交叉 Czerny-Turner 光譜儀並配備具有冷卻性能的 CCD 探測器，具有以下特色：
- 測量準確度高和雜散光抑制強
- 再現性和穩定性
- 積分時間非常短
CAS 140D 的應用範圍從國家校準實驗室的標準儀器到生產中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一個特定品質屬性是可追溯至 PTB 和 NIST 的校準，我們所有的光譜儀都配備該校準功能。
與廣泛的配件搭配組合，可以將光譜儀升級為一體化系統，適用於各種光譜輻射和光度測量任務。
在校準過程中使用雜散光校正矩陣運算（可選），可進一步降低 CAS 140D 原本就出色的雜散光值。因此，該測量儀器也非常適合 UV-LED 的精准測量和 LED 光源危害等級（光生物安全）的測定。
CAS 140D – 產品特長：
- 作為標準儀器在全球使用
- 200 – 1100nm 都有相應型號
- 具有冷卻性能的“薄型背照式”探測器，可減少暗電流
- 具有較強雜散光抑制的光譜儀
- 4 ms 至 65 s 的積分時間
- 配件自動識別
- 綜合性 SpecWin Pro 光譜軟體
- 高精度測量關聯色溫 (CCT) 和顯色指數 (CRI)
- 標準色度座標上僅 ±0.0015 的可追溯測量不確定性
- 額外雜散光校正（可選）
面向 LED、照明設備或顯示屏的一體化系統
CAS 140D 是 Instrument Systems 系統解決方案中的重要測量儀器。輔以功能強大的套裝軟體（SpecWinPro、LumiSuite）、積分球、測角儀、圖像色度測量儀和廣泛配件，我們針對任何測量挑戰提供合適的一體化系統，按照您行業的當前標準量身定制。
無論是需要對個別 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 產品執行輻射或光度測量，還是需要評估基於 LED、OLED 或 µLED 的顯示幕 – CAS 140D 適用於所有想得到的光度應用以及實驗室和生產挑戰。
測量應用
CAS 140D – 技術數據
| 型號 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
|
光譜範圍 |
200-830 nm |
220-1020 nm 300-1100 nm |
360-830 nm |
380-1040 nm |
|
光譜解析度 |
3.0 nm |
3.7 nm |
2.2 nm |
3.0 nm |
|
資料點間隔 |
0.65 nm |
0.8 nm |
0.5 nm |
0.65 nm |
|
LED 的雜散光 |
1·10-4 |
1·10-4 |
1·10-4 |
1·10-4 |
|
波長測量精度 |
±0.2 nm |
±0.2 nm |
±0.2 nm |
±0.2 nm |
| 詳細測量條件請參看資料表及產品手冊，或聯繫 Instrument Systems。 | ||||
根據配件的不同，可擴大測量範圍。請聯繫我們的測量專家為您服務！
系統範例
搭載CAS 140D
色度計及光譜儀查核
驗證亮度和色彩精度
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
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利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
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測定 SSL 光源的空間輻射特性
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用於生產線質量控制的一體化解決方案
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潛望鏡式設計，實現 AR/VR頭戴式裝置雙眼測量
MultiCAS 測試系統
同步控制多個 CAS 光譜儀
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符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
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實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
色度計及光譜儀查核
驗證亮度和色彩精度
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量
潛望鏡式設計，實現 AR/VR頭戴式裝置雙眼測量
MultiCAS 測試系統
同步控制多個 CAS 光譜儀
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
色度計及光譜儀查核
驗證亮度和色彩精度
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量
潛望鏡式設計，實現 AR/VR頭戴式裝置雙眼測量
MultiCAS 測試系統
同步控制多個 CAS 光譜儀
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
色度計及光譜儀查核
驗證亮度和色彩精度
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量
潛望鏡式設計，實現 AR/VR頭戴式裝置雙眼測量
MultiCAS 測試系統
同步控制多個 CAS 光譜儀
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
