第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）將於2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。身為全球光電全產業鏈旗艦展會，本屆匯聚全球3800+企業，聚焦資訊通訊、精密光學、攝影機技術及應用、雷射製造、紅外線紫外線、智慧感測、新型顯示器及AR/VR等八大前沿領域。 CIOE中國光博會與SEMI-e深圳國際半導體展暨2025積體電路產業創新展（SEMI-e）將同期舉辦，共同打造30萬㎡光電技術與半導體產業鏈的饗宴。   雙展同期將全面涵蓋‌積體電路、分離式元件、光電子元件、感測器‌四大半導體核心領域，深度完善半導體產業鏈佈局，共同服務顯示、資料中心、汽車等多個交叉領域的廣泛觀眾。   Instrument Systems攜手精恩光學Giant亮相本次展會，為您提供精確測量OLED/microLED顯示器、AR/VR近眼顯示器、VCSEL/IR雷射源、車載顯示器及照明等的系統解決方案。誠摯邀請各界朋友、專家蒞臨參觀我們展位，溝通交流，共探光電技術。   展位資訊   時間：2025年9月10-12日 地址：深圳國際會展中心(廣東省深圳市寶安區福海街道展城路1號) 展館：3號館（精密光學展&攝影機技術及應用展） 展位：3A40-9 展示重點   CAS 140D 高精度陣列光譜儀   CAS 140D 是IS光測推出的第四代陣列式光譜儀，儀器採用經過驗證的交叉Czerny-Turner 結構，內置帶冷卻功能的CCD 探測器，在提升測量效率的同時，有助於實現穩定且可重複的測量結果，並具備良好的雜散光抑制效果和短積分時間精度，適用於對光譜分析有多種要求的應用場景。   LumiTop X20 / X30 - 高解析度成像色度計 20 MP 及31 MP 的高速成像亮度與色度測量，支援從mcd/m² 到Mcd/m² 的寬動態範圍；適用於低亮度測量，具備優化的靈敏度表現；配備高曲線的電子自動對焦功能；評估亮度與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪曲線、白點對比度可進行測量時間與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪、白點對比時間進行測量時間值   LumiTop X150  - 用於亞像素級顯示測量的高解析度系統   LumiTop X150 搭載150 MP RGB 影像感測器，並結合2×2 像素位移技術，可產生高達600 MP的X、Y、Z 影像，適用於MicroLED 和OLED 等高解析度顯示器的二維光學測量。 此系統支援在亞像素層級進行亮度與色度的影像分析，有助於實現顯示校準、像素缺陷檢測等應用。 基於成熟的LumiTop 設計，X150 在提升成像精度的同時兼顧測量效率，適用於生產測試與研發驗證等多種使用情境。   CoboTop - 面向AR/VR 測試的自動化解決方案   CoboTop 是一款基於協作機器人（cobot）的自動化測試平台，由Instrument Systems 與柯尼卡美能達旗下的CoboSense 團隊共同開發，結合TOP 300 光學探頭，實現近眼顯示器的自動化測量流程。此系統適用於AR/VR 設備的生產和品管環節，可提升測試效率、重複性和操作一致性，為顯示製造商帶來更可靠的測量支援。   LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統 LumiTop 5300 AR/VR 配備2,400 萬像素高解析度成像感測器和直視鏡頭，適用於在顯示器安裝至頭戴裝置前進行二維測量，滿足特定生產環境下的測試需求。光譜增強型LumiTop 4000 AR/VR（1,200 萬像素）搭載潛望式鏡頭，可實現已安裝在頭戴裝置中的AR/VR 顯示器進行雙眼視角的平行測量，適合用於成品設備的2D 顯示性能驗證。   同期活動   同期超90場會議，產、學、研、用四位一體助你看發展！中國國際光電高峰論壇包括產業論壇、CIOE&YOLE國際論壇、光+應用論壇及OGC全球光電大會，產業、學術、終端大咖都在這裡！其中，產業論壇議題涵蓋資訊通訊、光學、雷射、紅外線、量子等板塊。   部分論壇列表......   預約參觀   掃描下方二維碼，即可觀眾預先登記   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話光測未來！   我們期待在2025CIOE中國光博會與您相見！

春意漸濃，萬物煥新。 2025年3月11-13日，‌作為亞洲雷射、光學、光電產業的年度盛會，慕尼黑上海光博會‌將於上海新國際博覽中心迎來20週年盛典。   本屆展會共9個展館，較上屆增加34%，涵蓋N1-N5及E4-E7館，以更大規模、更優產品、更多配套活動，連結供需資源，為科技引領高品質發展提供強大後盾和強力支撐。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展覽內容涵蓋了雷射及光學產業的各個面向，匯集了研究和工業應用。 Instrument Systems將攜手精恩光學Giant亮相展會，誠摯邀請您蒞臨參觀交流，共探光電技術前沿趨勢與產業合作機會。 展會時間‌： 2025年3月11日-13日 展地點‌：上海新國際博覽中心-3號入口廳，N1-N5，E7-E4館 交通指南：地鐵7號線花木路站1號口直達，自駕可導航至P2停車場。 我們的產品亮點   CoboTop - AR/VR測試的自動化解決方案 LumiTop AR/VR - 近眼顯示器測量系統 LumiTop 顯示器測量系統 XR設備測量用照明光源 DMS 904 - 車載曲面顯示器測量系統 VTC - VCSEL測量系統   思想碰撞，洞見未來   展會同期將舉辦200+場技術會議，涵蓋超快雷射、量子探測等前沿議題‌。   Light雷射與量子國際會議 聯合國宣布2025年為國際量子科學技術年（IYQ），會議將集中探討雷射與量子科技的趨勢研究進展及未來應用前景，致力於打造一個學術與產業深度融合的國際交流平台。   光學技術大會 聚焦產業熱門話題，主題包括計算光學成像技術、超構光學表面技術、半導體光學技術、光學微納檢測、紅外線探測技術、雷射、雷射技術等最新科技研發成果和進展，同時大會將聚焦半導體、新能源、汽車工程、人工智慧、生物光學等應用場景，更有多個主題培訓班的加入，為光電人帶來更多專業課程。 預約參觀   掃描下方二維碼即可提前預約領取參觀證，我們準備了精美小禮品，期待與您共聚展位‌ E7.7406‌，讓我們的創新解決方案為您帶來靈感。期待您的光臨！   掃碼免費領取參觀證   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話未來！

作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。

第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）將於2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。身為全球光電全產業鏈旗艦展會，本屆匯聚全球3800+企業，聚焦資訊通訊、精密光學、攝影機技術及應用、雷射製造、紅外線紫外線、智慧感測、新型顯示器及AR/VR等八大前沿領域。 CIOE中國光博會與SEMI-e深圳國際半導體展暨2025積體電路產業創新展（SEMI-e）將同期舉辦，共同打造30萬㎡光電技術與半導體產業鏈的饗宴。   雙展同期將全面涵蓋‌積體電路、分離式元件、光電子元件、感測器‌四大半導體核心領域，深度完善半導體產業鏈佈局，共同服務顯示、資料中心、汽車等多個交叉領域的廣泛觀眾。   Instrument Systems攜手精恩光學Giant亮相本次展會，為您提供精確測量OLED/microLED顯示器、AR/VR近眼顯示器、VCSEL/IR雷射源、車載顯示器及照明等的系統解決方案。誠摯邀請各界朋友、專家蒞臨參觀我們展位，溝通交流，共探光電技術。   展位資訊   時間：2025年9月10-12日 地址：深圳國際會展中心(廣東省深圳市寶安區福海街道展城路1號) 展館：3號館（精密光學展&攝影機技術及應用展） 展位：3A40-9 展示重點   CAS 140D 高精度陣列光譜儀   CAS 140D 是IS光測推出的第四代陣列式光譜儀，儀器採用經過驗證的交叉Czerny-Turner 結構，內置帶冷卻功能的CCD 探測器，在提升測量效率的同時，有助於實現穩定且可重複的測量結果，並具備良好的雜散光抑制效果和短積分時間精度，適用於對光譜分析有多種要求的應用場景。   LumiTop X20 / X30 - 高解析度成像色度計 20 MP 及31 MP 的高速成像亮度與色度測量，支援從mcd/m² 到Mcd/m² 的寬動態範圍；適用於低亮度測量，具備優化的靈敏度表現；配備高曲線的電子自動對焦功能；評估亮度與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪曲線、白點對比度可進行測量時間與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪、白點對比時間進行測量時間值   LumiTop X150  - 用於亞像素級顯示測量的高解析度系統   LumiTop X150 搭載150 MP RGB 影像感測器，並結合2×2 像素位移技術，可產生高達600 MP的X、Y、Z 影像，適用於MicroLED 和OLED 等高解析度顯示器的二維光學測量。 此系統支援在亞像素層級進行亮度與色度的影像分析，有助於實現顯示校準、像素缺陷檢測等應用。 基於成熟的LumiTop 設計，X150 在提升成像精度的同時兼顧測量效率，適用於生產測試與研發驗證等多種使用情境。   CoboTop - 面向AR/VR 測試的自動化解決方案   CoboTop 是一款基於協作機器人（cobot）的自動化測試平台，由Instrument Systems 與柯尼卡美能達旗下的CoboSense 團隊共同開發，結合TOP 300 光學探頭，實現近眼顯示器的自動化測量流程。此系統適用於AR/VR 設備的生產和品管環節，可提升測試效率、重複性和操作一致性，為顯示製造商帶來更可靠的測量支援。   LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統 LumiTop 5300 AR/VR 配備2,400 萬像素高解析度成像感測器和直視鏡頭，適用於在顯示器安裝至頭戴裝置前進行二維測量，滿足特定生產環境下的測試需求。光譜增強型LumiTop 4000 AR/VR（1,200 萬像素）搭載潛望式鏡頭，可實現已安裝在頭戴裝置中的AR/VR 顯示器進行雙眼視角的平行測量，適合用於成品設備的2D 顯示性能驗證。   同期活動   同期超90場會議，產、學、研、用四位一體助你看發展！中國國際光電高峰論壇包括產業論壇、CIOE&YOLE國際論壇、光+應用論壇及OGC全球光電大會，產業、學術、終端大咖都在這裡！其中，產業論壇議題涵蓋資訊通訊、光學、雷射、紅外線、量子等板塊。   部分論壇列表......   預約參觀   掃描下方二維碼，即可觀眾預先登記   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話光測未來！   我們期待在2025CIOE中國光博會與您相見！

春意漸濃，萬物煥新。 2025年3月11-13日，‌作為亞洲雷射、光學、光電產業的年度盛會，慕尼黑上海光博會‌將於上海新國際博覽中心迎來20週年盛典。   本屆展會共9個展館，較上屆增加34%，涵蓋N1-N5及E4-E7館，以更大規模、更優產品、更多配套活動，連結供需資源，為科技引領高品質發展提供強大後盾和強力支撐。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展覽內容涵蓋了雷射及光學產業的各個面向，匯集了研究和工業應用。 Instrument Systems將攜手精恩光學Giant亮相展會，誠摯邀請您蒞臨參觀交流，共探光電技術前沿趨勢與產業合作機會。 展會時間‌： 2025年3月11日-13日 展地點‌：上海新國際博覽中心-3號入口廳，N1-N5，E7-E4館 交通指南：地鐵7號線花木路站1號口直達，自駕可導航至P2停車場。 我們的產品亮點   CoboTop - AR/VR測試的自動化解決方案 LumiTop AR/VR - 近眼顯示器測量系統 LumiTop 顯示器測量系統 XR設備測量用照明光源 DMS 904 - 車載曲面顯示器測量系統 VTC - VCSEL測量系統   思想碰撞，洞見未來   展會同期將舉辦200+場技術會議，涵蓋超快雷射、量子探測等前沿議題‌。   Light雷射與量子國際會議 聯合國宣布2025年為國際量子科學技術年（IYQ），會議將集中探討雷射與量子科技的趨勢研究進展及未來應用前景，致力於打造一個學術與產業深度融合的國際交流平台。   光學技術大會 聚焦產業熱門話題，主題包括計算光學成像技術、超構光學表面技術、半導體光學技術、光學微納檢測、紅外線探測技術、雷射、雷射技術等最新科技研發成果和進展，同時大會將聚焦半導體、新能源、汽車工程、人工智慧、生物光學等應用場景，更有多個主題培訓班的加入，為光電人帶來更多專業課程。 預約參觀   掃描下方二維碼即可提前預約領取參觀證，我們準備了精美小禮品，期待與您共聚展位‌ E7.7406‌，讓我們的創新解決方案為您帶來靈感。期待您的光臨！   掃碼免費領取參觀證   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話未來！

作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。

第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）將於2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。身為全球光電全產業鏈旗艦展會，本屆匯聚全球3800+企業，聚焦資訊通訊、精密光學、攝影機技術及應用、雷射製造、紅外線紫外線、智慧感測、新型顯示器及AR/VR等八大前沿領域。 CIOE中國光博會與SEMI-e深圳國際半導體展暨2025積體電路產業創新展（SEMI-e）將同期舉辦，共同打造30萬㎡光電技術與半導體產業鏈的饗宴。   雙展同期將全面涵蓋‌積體電路、分離式元件、光電子元件、感測器‌四大半導體核心領域，深度完善半導體產業鏈佈局，共同服務顯示、資料中心、汽車等多個交叉領域的廣泛觀眾。   Instrument Systems攜手精恩光學Giant亮相本次展會，為您提供精確測量OLED/microLED顯示器、AR/VR近眼顯示器、VCSEL/IR雷射源、車載顯示器及照明等的系統解決方案。誠摯邀請各界朋友、專家蒞臨參觀我們展位，溝通交流，共探光電技術。   展位資訊   時間：2025年9月10-12日 地址：深圳國際會展中心(廣東省深圳市寶安區福海街道展城路1號) 展館：3號館（精密光學展&攝影機技術及應用展） 展位：3A40-9 展示重點   CAS 140D 高精度陣列光譜儀   CAS 140D 是IS光測推出的第四代陣列式光譜儀，儀器採用經過驗證的交叉Czerny-Turner 結構，內置帶冷卻功能的CCD 探測器，在提升測量效率的同時，有助於實現穩定且可重複的測量結果，並具備良好的雜散光抑制效果和短積分時間精度，適用於對光譜分析有多種要求的應用場景。   LumiTop X20 / X30 - 高解析度成像色度計 20 MP 及31 MP 的高速成像亮度與色度測量，支援從mcd/m² 到Mcd/m² 的寬動態範圍；適用於低亮度測量，具備優化的靈敏度表現；配備高曲線的電子自動對焦功能；評估亮度與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪曲線、白點對比度可進行測量時間與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪、白點對比時間進行測量時間值   LumiTop X150  - 用於亞像素級顯示測量的高解析度系統   LumiTop X150 搭載150 MP RGB 影像感測器，並結合2×2 像素位移技術，可產生高達600 MP的X、Y、Z 影像，適用於MicroLED 和OLED 等高解析度顯示器的二維光學測量。 此系統支援在亞像素層級進行亮度與色度的影像分析，有助於實現顯示校準、像素缺陷檢測等應用。 基於成熟的LumiTop 設計，X150 在提升成像精度的同時兼顧測量效率，適用於生產測試與研發驗證等多種使用情境。   CoboTop - 面向AR/VR 測試的自動化解決方案   CoboTop 是一款基於協作機器人（cobot）的自動化測試平台，由Instrument Systems 與柯尼卡美能達旗下的CoboSense 團隊共同開發，結合TOP 300 光學探頭，實現近眼顯示器的自動化測量流程。此系統適用於AR/VR 設備的生產和品管環節，可提升測試效率、重複性和操作一致性，為顯示製造商帶來更可靠的測量支援。   LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統 LumiTop 5300 AR/VR 配備2,400 萬像素高解析度成像感測器和直視鏡頭，適用於在顯示器安裝至頭戴裝置前進行二維測量，滿足特定生產環境下的測試需求。光譜增強型LumiTop 4000 AR/VR（1,200 萬像素）搭載潛望式鏡頭，可實現已安裝在頭戴裝置中的AR/VR 顯示器進行雙眼視角的平行測量，適合用於成品設備的2D 顯示性能驗證。   同期活動   同期超90場會議，產、學、研、用四位一體助你看發展！中國國際光電高峰論壇包括產業論壇、CIOE&YOLE國際論壇、光+應用論壇及OGC全球光電大會，產業、學術、終端大咖都在這裡！其中，產業論壇議題涵蓋資訊通訊、光學、雷射、紅外線、量子等板塊。   部分論壇列表......   預約參觀   掃描下方二維碼，即可觀眾預先登記   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話光測未來！   我們期待在2025CIOE中國光博會與您相見！

春意漸濃，萬物煥新。 2025年3月11-13日，‌作為亞洲雷射、光學、光電產業的年度盛會，慕尼黑上海光博會‌將於上海新國際博覽中心迎來20週年盛典。   本屆展會共9個展館，較上屆增加34%，涵蓋N1-N5及E4-E7館，以更大規模、更優產品、更多配套活動，連結供需資源，為科技引領高品質發展提供強大後盾和強力支撐。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展覽內容涵蓋了雷射及光學產業的各個面向，匯集了研究和工業應用。 Instrument Systems將攜手精恩光學Giant亮相展會，誠摯邀請您蒞臨參觀交流，共探光電技術前沿趨勢與產業合作機會。 展會時間‌： 2025年3月11日-13日 展地點‌：上海新國際博覽中心-3號入口廳，N1-N5，E7-E4館 交通指南：地鐵7號線花木路站1號口直達，自駕可導航至P2停車場。 我們的產品亮點   CoboTop - AR/VR測試的自動化解決方案 LumiTop AR/VR - 近眼顯示器測量系統 LumiTop 顯示器測量系統 XR設備測量用照明光源 DMS 904 - 車載曲面顯示器測量系統 VTC - VCSEL測量系統   思想碰撞，洞見未來   展會同期將舉辦200+場技術會議，涵蓋超快雷射、量子探測等前沿議題‌。   Light雷射與量子國際會議 聯合國宣布2025年為國際量子科學技術年（IYQ），會議將集中探討雷射與量子科技的趨勢研究進展及未來應用前景，致力於打造一個學術與產業深度融合的國際交流平台。   光學技術大會 聚焦產業熱門話題，主題包括計算光學成像技術、超構光學表面技術、半導體光學技術、光學微納檢測、紅外線探測技術、雷射、雷射技術等最新科技研發成果和進展，同時大會將聚焦半導體、新能源、汽車工程、人工智慧、生物光學等應用場景，更有多個主題培訓班的加入，為光電人帶來更多專業課程。 預約參觀   掃描下方二維碼即可提前預約領取參觀證，我們準備了精美小禮品，期待與您共聚展位‌ E7.7406‌，讓我們的創新解決方案為您帶來靈感。期待您的光臨！   掃碼免費領取參觀證   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話未來！

作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。