第26届中国国际光电博览会（CIOE）将于2025年9月10-12日在深圳国际会展中心举办。作为全球光电全产业链旗舰展会，本届汇聚全球3800+企业，聚焦信息通信、精密光学、摄像头技术及应用、激光制造、红外紫外、智能传感、新型显示及AR/VR等八大前沿领域。 CIOE中国光博会与SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展（SEMI-e）将同期举办，共同打造30万㎡光电技术与半导体产业链的盛宴。   双展同期将全面覆盖‌集成电路、分立器件、光电子器件、传感器‌四大半导体核心领域，深度完善半导体产业链布局，共同服务于显示、数据中心、汽车等多个交叉领域的广泛观众。   Instrument Systems携手精恩光学Giant亮相本次展会，为您提供精确测量OLED/microLED显示屏、AR/VR近眼显示器、VCSEL/IR激光源、车载显示器及照明等的系统解决方案。诚邀各界朋友、专家莅临参观我们展位，沟通交流，共探光电技术。   展位信息   时间：2025年9月10-12日 地址：深圳国际会展中心 (广东省深圳市宝安区福海街道展城路1号) 展馆：3号馆（精密光学展&摄像头技术及应用展） 展位：3A40-9 展示重点   CAS 140D 高精度阵列光谱仪   CAS 140D 是IS光测推出的第四代阵列式光谱仪，仪器采用经过验证的交叉 Czerny-Turner 结构，内置带冷却功能的 CCD 探测器，在提升测量效率的同时，有助于实现稳定且可重复的测量结果，并具备良好的杂散光抑制效果和短积分时间，适用于多种对光谱分析精度有较高要求的应用场景。   LumiTop X20 / X30 - 高分辨率成像色度计 20 MP 及 31 MP 的高速成像亮度与色度测量，支持从 mcd/m² 到 Mcd/m² 的宽动态范围；适用于低亮度测量，具备优化的灵敏度表现；配备高精度的电子自动对焦功能；评估亮度与色彩均匀性、Mura、像素缺陷、对比度、伽马曲线、白点、闪烁和亮度调制，同时可进行中心点的光谱分析；测量时间低于 1 秒，适用于 生产线测试。   LumiTop X150 - 用于亚像素级显示测量的高分辨率系统   LumiTop X150 搭载 150 MP RGB 图像传感器，并结合 2×2 像素位移技术，可生成高达 600 MP的 X、Y、Z 图像，适用于 MicroLED 和 OLED 等高分辨率显示器的二维光学测量。 该系统支持在亚像素级别进行亮度与色度的图像分析，有助于实现显示校准、像素缺陷检测等应用。 基于成熟的 LumiTop 设计，X150 在提升成像精度的同时兼顾测量效率，适用于生产测试与研发验证等多种使用场景。   CoboTop - 面向 AR/VR 测试的自动化解决方案   CoboTop 是一款基于协作机器人（cobot）的自动化测试平台，由 Instrument Systems 与柯尼卡美能达旗下的 CoboSense 团队联合开发，结合 TOP 300 光学探头，实现近眼显示器的自动化测量流程。该系统适用于 AR/VR   设备的生产和质控环节，可提升测试效率、重复性和操作一致性，为显示制造商带来更可靠的测量支持。   LumiTop AR/VR 近眼显示器量测系统 LumiTop 5300 AR/VR 配备 2400 万像素高分辨率成像传感器和直视镜头，适用于在显示屏安装至头戴设备前进行二维测量，满足特定生产环境下的测试需求。光谱增强型 LumiTop 4000 AR/VR（1200 万像素）搭载潜望式镜头，可实现对已安装在头戴设备中的 AR/VR 显示屏进行双眼视角的平行测量，适合用于成品设备的 2D 显示性能验证。   同期活动   同期超90场会议，产、学、研、用四位一体助你看发展！中国国际光电高峰论坛包括产业论坛、CIOE&YOLE国际论坛、光+应用论坛及OGC全球光电大会，产业、学术、终端大咖都在这里！其中，产业论坛议题涵盖信息通信、光学、激光、红外、量子等板块。   部分论坛列表......   预约参观   扫描下方二维码，即可观众预登记   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话光测未来！   我们期待在2025CIOE中国光博会与您相见！

春意渐浓，万物焕新。2025年3月11-13日，‌作为亚洲激光、光学、光电行业的年度盛会，慕尼黑上海光博会‌将于上海新国际博览中心迎来20周年盛典。   本届展会共计9个展馆，较上届增加34%，覆盖N1-N5及E4-E7馆，以更大规模、更优产品、更多配套活动，连接供需资源，为科技引领高质量发展提供坚强后盾和有力支撑。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展览内容覆盖了激光及光学行业的各个面向，汇聚了研究和工业应用。Instrument Systems将携手精恩光学Giant亮相展会，诚邀您莅临参观交流，共探光电技术前沿趋势与产业合作机遇。 展会时间‌：2025年3月11日-13日 ‌展会地点‌：上海新国际博览中心-3号入口厅，N1-N5，E7-E4馆 交通指南：地铁7号线花木路站1号口直达，自驾可导航至P2停车场。 我们的产品亮点   CoboTop - AR/VR测试的自动化解决方案 LumiTop AR/VR - 近眼显示器测量系统 LumiTop 显示屏测量系统 XR设备测量用照明光源 DMS 904 - 车载曲面显示屏测量系统 VTC - VCSEL测量系统   思想碰撞，洞见未来   展会同期将举办200+场技术会议，涵盖超快激光、量子探测等前沿议题‌。   Light激光与量子国际会议 联合国宣布2025年为国际量子科学技术年（IYQ），会议将集中探讨激光与量子科技的趋势性研究进展及未来应用前景，致力于打造一个学术与产业深度融合的国际交流平台。   光学技术大会 聚焦行业热点话题，主题包括计算光学成像技术、超构光学表面技术、半导体光学技术、光学微纳检测、红外探测技术、激光器、激光技术等最新科技研发成果和进展，同时大会将聚焦半导体、新能源、汽车工程、人工智能、生物医疗等应用场景，更有多个光学主题培训班的加入，为光电人带来更多专业课程。 预约参观   扫描下方二维码即可提前预约领取参观证，我们准备了精美小礼品，期待与您共聚展位 ‌E7.7406‌ ，让我们的创新解决方案为您带来灵感。期待您的光临！   扫码免费领取参观证   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话未来！

作为亚洲激光、光学、光电行业盛会，2024年慕尼黑上海光博会将于3月20-22日在上海新国际博览中心隆重开幕。光学技术与激光技术在半导体检测、芯片制造、新能源汽车制造等领域发挥着关键作用，极大地推动了国家信息化建设和经济发展。 在此盛会上，Instrument Systems将与Giant精恩光学共同参展，在现场为您展示来自德国的前沿测量技术，并根据您的测量需求提供咨询服务。 我们的展位位于Hall W4 4417，热切期待您的光临! Instrument Systems 将会在显示技术、增强现实/虚拟现实（AR/VR）以及垂直腔面发射激光器（VCSEL）测量等领域展示一系列成熟且充满创新的解决方案。本届展会上，我们展台的一大亮点是全新一代的大尺寸和曲面显示屏测量解决方案。全自动的7轴 DMS 904 测角仪专为大尺寸显示屏的光学特性测试而设计，包括支持跨越整辆车宽度的Pillar-to-Pillar显示屏。   多位经验丰富的光学测量技术人员将在现场为您介绍光测技术，并针对您的测量需求提供最合适的解决方案。我们热切期待您的光临! 我们的测量应用 显示屏生产测量 LumiTop 4000显示屏系统一站测量显示屏的均匀度、偏色、闪烁、伽马值、缺陷检测 (Mura) 等特性。 AR/VR 测量 LumiTop AR/VR 及 DMS测角仪系统能检测及校正近眼显示器的均匀性、对比度、角度依赖性及色彩保真度等。 MicroLED 测量 LumiTop X150 高分辨率图像色度测量系统，适合 OLED 及 MicroLED显示器的亚像素分析及像素缺陷测试。 大型车载显示屏测量 DMS 904测角仪7轴联动，精确测量显示器的光电转换特性 (EOTF) 、开关速度、响应时间和 Flicker等 VCSEL 测量 VTC及PVT系列 VCSEL测量系统可根据国际激光安全标准 IEC60825 进行 VCSEL激光器的人眼安全测试，包括远场、近场及纳秒级的脉冲测量。 IR/NIR 测量 以CAS 140D IR高端光谱仪为核心的红外测量系统，可量测红外及近红外光源的光谱、功率、LIV曲线、光学输出的温度相关性及角度分辨测量。 我们期待在2024上海慕尼黑光博会与您相见！

据发现，VCSEL阵列在消费电子领域有着大量的应用，包括飞行时间（ToF）或3D传感中的结构光源，人脸识别（FR）、手势识别（GR）中的接近照明等等。本研究的重点是对整个VCSEL阵列和其中的每个发射器进行详细和全面的LIV测试、光谱和波束分析。 \\  对单个发射器进行2D LIV+λ检测的必要性 对于面部识别、3D传感、车内感应、激光雷达和测距等要求严格的应用至关重要 调查发射者之间的串扰 并行化测量，减少整体测量时间 LIV曲线是用激光二极管来确定电气和光学的工作特性最基本的测量方法。这些曲线建立了阈值电流、坡度效率、翻转点、是否存在任何扭结等。它们被广泛应用于不同的阶段，因为在制造过程的早期识别错误的DUTs是至关重要的。 整个VCSEL阵列的LIV特征   从200 mA到1.8 A测量整个阵列的L-I和I-V曲线 根据L-I曲线计算出坡度效率、阈值电流和翻转电流 在I-V曲线中，电压随预期的电流的增加大致呈线性增加  整个阵列中所有发射器的LIV特性   在此测量中使用的VCSEL阵列由281个发射器组成 测量了每个发射器的斜坡效率和阈值电流 外部发射器具有较高的坡度效率，但阈值电流较低 内部发射器在这两个量上都有微小的变化 除了LIV曲线外，我们还测量了不同电流下单个发射器（选择阵列选择15个发射器）的光谱，与LIV曲线相似。光谱如下图所示。每个子图表示一个发射器，其光谱在不同的电流下用颜色编码（蓝色在400 mA到红色在1.8 A）。我们观察到在较高的电流下的频谱位移，高阶模式也随着电流的增加而出现。 \\  结论 我们扩展了现有的一维LIV测试、光谱和光束分析，延申到覆盖VCSEL阵列里的每个单个发射器。这种方法不仅实现测量的并行化，缩短总体测量时间，还提供了研究个别发射器之间相互影响的机会。 VTC 4000：灵活、精确的单发射器分析 我们独特的测量解决方案，具有从客户那里定义良好的要求，允许识别阵列中性能不佳或规格不佳的发射器。我们相信，这种全面的表征单个发射器是至关重要的要求苛刻的应用。这使得VCSEL制造商能够确保最终产品的合规性，而不会产生任何包装成本，并加快制造过程。

\\ 德国Instrument Systems最近发布的LumiTop X20和X30成像色度计，为特殊亮度条件下的显示屏测试提供先进的解决方案。这两款色度计拥有卓越的性能，包括高分辨率（20 MP和31 MP）和广泛的动态范围（从mcd/m²到Mcd/m²），特别适用于均匀性测量和错误检测。 LumiTop X20 和 LumiTop X30 专为特殊亮度下的显示屏生产测试而设计。经过光谱优化的 LumiTop 技术深受客户信赖，是显示屏质量保证的强大工具。这项技术让显示屏制造商能够在广泛的亮度范围内进行测试，包括从高亮度的数百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考虑了人眼对于不同亮度的适应性。 当今的显示屏具备先进的亮度功能，可以智能调整亮度以提高用户体验并减轻眼睛疲劳。因此，在设计和制造显示屏时，进行准确的亮度和颜色测试尤为关键，特别是在低亮度条件下的性能测试。LumiTopX20和X30成像色度计配备高分辨率相机（20MP和31MP）、高精度电动镜头实现的弹性视场角(FOV)，以及广泛动态范围，成为理想的测量工具。 除了卓越的设计，LumiTop X20和X30还具备全新的闪烁传感器，适用于1 Hz到1 kHz的频率范围。通过LumiTop系列成像色度计，结合高分辨率相机、快速光度计、闪烁传感器和CAS高精度光谱仪，Instrument Systems持续引领显示屏测量技术领域，为低亮度和高亮度条件下的显示屏质量提供可靠的保障。   LumiTop 测量解决方案是广受业界信赖的的显示屏测量标准。若您有任何关于显示屏和Mini/MicroLED测量的问题，欢迎随时和我们联系（[email protected]），从精恩光学光测团队获得解决方案。

第26届中国国际光电博览会（CIOE）将于2025年9月10-12日在深圳国际会展中心举办。作为全球光电全产业链旗舰展会，本届汇聚全球3800+企业，聚焦信息通信、精密光学、摄像头技术及应用、激光制造、红外紫外、智能传感、新型显示及AR/VR等八大前沿领域。 CIOE中国光博会与SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展（SEMI-e）将同期举办，共同打造30万㎡光电技术与半导体产业链的盛宴。   双展同期将全面覆盖‌集成电路、分立器件、光电子器件、传感器‌四大半导体核心领域，深度完善半导体产业链布局，共同服务于显示、数据中心、汽车等多个交叉领域的广泛观众。   Instrument Systems携手精恩光学Giant亮相本次展会，为您提供精确测量OLED/microLED显示屏、AR/VR近眼显示器、VCSEL/IR激光源、车载显示器及照明等的系统解决方案。诚邀各界朋友、专家莅临参观我们展位，沟通交流，共探光电技术。   展位信息   时间：2025年9月10-12日 地址：深圳国际会展中心 (广东省深圳市宝安区福海街道展城路1号) 展馆：3号馆（精密光学展&摄像头技术及应用展） 展位：3A40-9 展示重点   CAS 140D 高精度阵列光谱仪   CAS 140D 是IS光测推出的第四代阵列式光谱仪，仪器采用经过验证的交叉 Czerny-Turner 结构，内置带冷却功能的 CCD 探测器，在提升测量效率的同时，有助于实现稳定且可重复的测量结果，并具备良好的杂散光抑制效果和短积分时间，适用于多种对光谱分析精度有较高要求的应用场景。   LumiTop X20 / X30 - 高分辨率成像色度计 20 MP 及 31 MP 的高速成像亮度与色度测量，支持从 mcd/m² 到 Mcd/m² 的宽动态范围；适用于低亮度测量，具备优化的灵敏度表现；配备高精度的电子自动对焦功能；评估亮度与色彩均匀性、Mura、像素缺陷、对比度、伽马曲线、白点、闪烁和亮度调制，同时可进行中心点的光谱分析；测量时间低于 1 秒，适用于 生产线测试。   LumiTop X150 - 用于亚像素级显示测量的高分辨率系统   LumiTop X150 搭载 150 MP RGB 图像传感器，并结合 2×2 像素位移技术，可生成高达 600 MP的 X、Y、Z 图像，适用于 MicroLED 和 OLED 等高分辨率显示器的二维光学测量。 该系统支持在亚像素级别进行亮度与色度的图像分析，有助于实现显示校准、像素缺陷检测等应用。 基于成熟的 LumiTop 设计，X150 在提升成像精度的同时兼顾测量效率，适用于生产测试与研发验证等多种使用场景。   CoboTop - 面向 AR/VR 测试的自动化解决方案   CoboTop 是一款基于协作机器人（cobot）的自动化测试平台，由 Instrument Systems 与柯尼卡美能达旗下的 CoboSense 团队联合开发，结合 TOP 300 光学探头，实现近眼显示器的自动化测量流程。该系统适用于 AR/VR   设备的生产和质控环节，可提升测试效率、重复性和操作一致性，为显示制造商带来更可靠的测量支持。   LumiTop AR/VR 近眼显示器量测系统 LumiTop 5300 AR/VR 配备 2400 万像素高分辨率成像传感器和直视镜头，适用于在显示屏安装至头戴设备前进行二维测量，满足特定生产环境下的测试需求。光谱增强型 LumiTop 4000 AR/VR（1200 万像素）搭载潜望式镜头，可实现对已安装在头戴设备中的 AR/VR 显示屏进行双眼视角的平行测量，适合用于成品设备的 2D 显示性能验证。   同期活动   同期超90场会议，产、学、研、用四位一体助你看发展！中国国际光电高峰论坛包括产业论坛、CIOE&YOLE国际论坛、光+应用论坛及OGC全球光电大会，产业、学术、终端大咖都在这里！其中，产业论坛议题涵盖信息通信、光学、激光、红外、量子等板块。   部分论坛列表......   预约参观   扫描下方二维码，即可观众预登记   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话光测未来！   我们期待在2025CIOE中国光博会与您相见！

春意渐浓，万物焕新。2025年3月11-13日，‌作为亚洲激光、光学、光电行业的年度盛会，慕尼黑上海光博会‌将于上海新国际博览中心迎来20周年盛典。   本届展会共计9个展馆，较上届增加34%，覆盖N1-N5及E4-E7馆，以更大规模、更优产品、更多配套活动，连接供需资源，为科技引领高质量发展提供坚强后盾和有力支撑。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展览内容覆盖了激光及光学行业的各个面向，汇聚了研究和工业应用。Instrument Systems将携手精恩光学Giant亮相展会，诚邀您莅临参观交流，共探光电技术前沿趋势与产业合作机遇。 展会时间‌：2025年3月11日-13日 ‌展会地点‌：上海新国际博览中心-3号入口厅，N1-N5，E7-E4馆 交通指南：地铁7号线花木路站1号口直达，自驾可导航至P2停车场。 我们的产品亮点   CoboTop - AR/VR测试的自动化解决方案 LumiTop AR/VR - 近眼显示器测量系统 LumiTop 显示屏测量系统 XR设备测量用照明光源 DMS 904 - 车载曲面显示屏测量系统 VTC - VCSEL测量系统   思想碰撞，洞见未来   展会同期将举办200+场技术会议，涵盖超快激光、量子探测等前沿议题‌。   Light激光与量子国际会议 联合国宣布2025年为国际量子科学技术年（IYQ），会议将集中探讨激光与量子科技的趋势性研究进展及未来应用前景，致力于打造一个学术与产业深度融合的国际交流平台。   光学技术大会 聚焦行业热点话题，主题包括计算光学成像技术、超构光学表面技术、半导体光学技术、光学微纳检测、红外探测技术、激光器、激光技术等最新科技研发成果和进展，同时大会将聚焦半导体、新能源、汽车工程、人工智能、生物医疗等应用场景，更有多个光学主题培训班的加入，为光电人带来更多专业课程。 预约参观   扫描下方二维码即可提前预约领取参观证，我们准备了精美小礼品，期待与您共聚展位 ‌E7.7406‌ ，让我们的创新解决方案为您带来灵感。期待您的光临！   扫码免费领取参观证   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话未来！

作为亚洲激光、光学、光电行业盛会，2024年慕尼黑上海光博会将于3月20-22日在上海新国际博览中心隆重开幕。光学技术与激光技术在半导体检测、芯片制造、新能源汽车制造等领域发挥着关键作用，极大地推动了国家信息化建设和经济发展。 在此盛会上，Instrument Systems将与Giant精恩光学共同参展，在现场为您展示来自德国的前沿测量技术，并根据您的测量需求提供咨询服务。 我们的展位位于Hall W4 4417，热切期待您的光临! Instrument Systems 将会在显示技术、增强现实/虚拟现实（AR/VR）以及垂直腔面发射激光器（VCSEL）测量等领域展示一系列成熟且充满创新的解决方案。本届展会上，我们展台的一大亮点是全新一代的大尺寸和曲面显示屏测量解决方案。全自动的7轴 DMS 904 测角仪专为大尺寸显示屏的光学特性测试而设计，包括支持跨越整辆车宽度的Pillar-to-Pillar显示屏。   多位经验丰富的光学测量技术人员将在现场为您介绍光测技术，并针对您的测量需求提供最合适的解决方案。我们热切期待您的光临! 我们的测量应用 显示屏生产测量 LumiTop 4000显示屏系统一站测量显示屏的均匀度、偏色、闪烁、伽马值、缺陷检测 (Mura) 等特性。 AR/VR 测量 LumiTop AR/VR 及 DMS测角仪系统能检测及校正近眼显示器的均匀性、对比度、角度依赖性及色彩保真度等。 MicroLED 测量 LumiTop X150 高分辨率图像色度测量系统，适合 OLED 及 MicroLED显示器的亚像素分析及像素缺陷测试。 大型车载显示屏测量 DMS 904测角仪7轴联动，精确测量显示器的光电转换特性 (EOTF) 、开关速度、响应时间和 Flicker等 VCSEL 测量 VTC及PVT系列 VCSEL测量系统可根据国际激光安全标准 IEC60825 进行 VCSEL激光器的人眼安全测试，包括远场、近场及纳秒级的脉冲测量。 IR/NIR 测量 以CAS 140D IR高端光谱仪为核心的红外测量系统，可量测红外及近红外光源的光谱、功率、LIV曲线、光学输出的温度相关性及角度分辨测量。 我们期待在2024上海慕尼黑光博会与您相见！

据发现，VCSEL阵列在消费电子领域有着大量的应用，包括飞行时间（ToF）或3D传感中的结构光源，人脸识别（FR）、手势识别（GR）中的接近照明等等。本研究的重点是对整个VCSEL阵列和其中的每个发射器进行详细和全面的LIV测试、光谱和波束分析。 \\  对单个发射器进行2D LIV+λ检测的必要性 对于面部识别、3D传感、车内感应、激光雷达和测距等要求严格的应用至关重要 调查发射者之间的串扰 并行化测量，减少整体测量时间 LIV曲线是用激光二极管来确定电气和光学的工作特性最基本的测量方法。这些曲线建立了阈值电流、坡度效率、翻转点、是否存在任何扭结等。它们被广泛应用于不同的阶段，因为在制造过程的早期识别错误的DUTs是至关重要的。 整个VCSEL阵列的LIV特征   从200 mA到1.8 A测量整个阵列的L-I和I-V曲线 根据L-I曲线计算出坡度效率、阈值电流和翻转电流 在I-V曲线中，电压随预期的电流的增加大致呈线性增加  整个阵列中所有发射器的LIV特性   在此测量中使用的VCSEL阵列由281个发射器组成 测量了每个发射器的斜坡效率和阈值电流 外部发射器具有较高的坡度效率，但阈值电流较低 内部发射器在这两个量上都有微小的变化 除了LIV曲线外，我们还测量了不同电流下单个发射器（选择阵列选择15个发射器）的光谱，与LIV曲线相似。光谱如下图所示。每个子图表示一个发射器，其光谱在不同的电流下用颜色编码（蓝色在400 mA到红色在1.8 A）。我们观察到在较高的电流下的频谱位移，高阶模式也随着电流的增加而出现。 \\  结论 我们扩展了现有的一维LIV测试、光谱和光束分析，延申到覆盖VCSEL阵列里的每个单个发射器。这种方法不仅实现测量的并行化，缩短总体测量时间，还提供了研究个别发射器之间相互影响的机会。 VTC 4000：灵活、精确的单发射器分析 我们独特的测量解决方案，具有从客户那里定义良好的要求，允许识别阵列中性能不佳或规格不佳的发射器。我们相信，这种全面的表征单个发射器是至关重要的要求苛刻的应用。这使得VCSEL制造商能够确保最终产品的合规性，而不会产生任何包装成本，并加快制造过程。

\\ 德国Instrument Systems最近发布的LumiTop X20和X30成像色度计，为特殊亮度条件下的显示屏测试提供先进的解决方案。这两款色度计拥有卓越的性能，包括高分辨率（20 MP和31 MP）和广泛的动态范围（从mcd/m²到Mcd/m²），特别适用于均匀性测量和错误检测。 LumiTop X20 和 LumiTop X30 专为特殊亮度下的显示屏生产测试而设计。经过光谱优化的 LumiTop 技术深受客户信赖，是显示屏质量保证的强大工具。这项技术让显示屏制造商能够在广泛的亮度范围内进行测试，包括从高亮度的数百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考虑了人眼对于不同亮度的适应性。 当今的显示屏具备先进的亮度功能，可以智能调整亮度以提高用户体验并减轻眼睛疲劳。因此，在设计和制造显示屏时，进行准确的亮度和颜色测试尤为关键，特别是在低亮度条件下的性能测试。LumiTopX20和X30成像色度计配备高分辨率相机（20MP和31MP）、高精度电动镜头实现的弹性视场角(FOV)，以及广泛动态范围，成为理想的测量工具。 除了卓越的设计，LumiTop X20和X30还具备全新的闪烁传感器，适用于1 Hz到1 kHz的频率范围。通过LumiTop系列成像色度计，结合高分辨率相机、快速光度计、闪烁传感器和CAS高精度光谱仪，Instrument Systems持续引领显示屏测量技术领域，为低亮度和高亮度条件下的显示屏质量提供可靠的保障。   LumiTop 测量解决方案是广受业界信赖的的显示屏测量标准。若您有任何关于显示屏和Mini/MicroLED测量的问题，欢迎随时和我们联系（[email protected]），从精恩光学光测团队获得解决方案。

第26届中国国际光电博览会（CIOE）将于2025年9月10-12日在深圳国际会展中心举办。作为全球光电全产业链旗舰展会，本届汇聚全球3800+企业，聚焦信息通信、精密光学、摄像头技术及应用、激光制造、红外紫外、智能传感、新型显示及AR/VR等八大前沿领域。 CIOE中国光博会与SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展（SEMI-e）将同期举办，共同打造30万㎡光电技术与半导体产业链的盛宴。   双展同期将全面覆盖‌集成电路、分立器件、光电子器件、传感器‌四大半导体核心领域，深度完善半导体产业链布局，共同服务于显示、数据中心、汽车等多个交叉领域的广泛观众。   Instrument Systems携手精恩光学Giant亮相本次展会，为您提供精确测量OLED/microLED显示屏、AR/VR近眼显示器、VCSEL/IR激光源、车载显示器及照明等的系统解决方案。诚邀各界朋友、专家莅临参观我们展位，沟通交流，共探光电技术。   展位信息   时间：2025年9月10-12日 地址：深圳国际会展中心 (广东省深圳市宝安区福海街道展城路1号) 展馆：3号馆（精密光学展&摄像头技术及应用展） 展位：3A40-9 展示重点   CAS 140D 高精度阵列光谱仪   CAS 140D 是IS光测推出的第四代阵列式光谱仪，仪器采用经过验证的交叉 Czerny-Turner 结构，内置带冷却功能的 CCD 探测器，在提升测量效率的同时，有助于实现稳定且可重复的测量结果，并具备良好的杂散光抑制效果和短积分时间，适用于多种对光谱分析精度有较高要求的应用场景。   LumiTop X20 / X30 - 高分辨率成像色度计 20 MP 及 31 MP 的高速成像亮度与色度测量，支持从 mcd/m² 到 Mcd/m² 的宽动态范围；适用于低亮度测量，具备优化的灵敏度表现；配备高精度的电子自动对焦功能；评估亮度与色彩均匀性、Mura、像素缺陷、对比度、伽马曲线、白点、闪烁和亮度调制，同时可进行中心点的光谱分析；测量时间低于 1 秒，适用于 生产线测试。   LumiTop X150 - 用于亚像素级显示测量的高分辨率系统   LumiTop X150 搭载 150 MP RGB 图像传感器，并结合 2×2 像素位移技术，可生成高达 600 MP的 X、Y、Z 图像，适用于 MicroLED 和 OLED 等高分辨率显示器的二维光学测量。 该系统支持在亚像素级别进行亮度与色度的图像分析，有助于实现显示校准、像素缺陷检测等应用。 基于成熟的 LumiTop 设计，X150 在提升成像精度的同时兼顾测量效率，适用于生产测试与研发验证等多种使用场景。   CoboTop - 面向 AR/VR 测试的自动化解决方案   CoboTop 是一款基于协作机器人（cobot）的自动化测试平台，由 Instrument Systems 与柯尼卡美能达旗下的 CoboSense 团队联合开发，结合 TOP 300 光学探头，实现近眼显示器的自动化测量流程。该系统适用于 AR/VR   设备的生产和质控环节，可提升测试效率、重复性和操作一致性，为显示制造商带来更可靠的测量支持。   LumiTop AR/VR 近眼显示器量测系统 LumiTop 5300 AR/VR 配备 2400 万像素高分辨率成像传感器和直视镜头，适用于在显示屏安装至头戴设备前进行二维测量，满足特定生产环境下的测试需求。光谱增强型 LumiTop 4000 AR/VR（1200 万像素）搭载潜望式镜头，可实现对已安装在头戴设备中的 AR/VR 显示屏进行双眼视角的平行测量，适合用于成品设备的 2D 显示性能验证。   同期活动   同期超90场会议，产、学、研、用四位一体助你看发展！中国国际光电高峰论坛包括产业论坛、CIOE&YOLE国际论坛、光+应用论坛及OGC全球光电大会，产业、学术、终端大咖都在这里！其中，产业论坛议题涵盖信息通信、光学、激光、红外、量子等板块。   部分论坛列表......   预约参观   扫描下方二维码，即可观众预登记   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话光测未来！   我们期待在2025CIOE中国光博会与您相见！

春意渐浓，万物焕新。2025年3月11-13日，‌作为亚洲激光、光学、光电行业的年度盛会，慕尼黑上海光博会‌将于上海新国际博览中心迎来20周年盛典。   本届展会共计9个展馆，较上届增加34%，覆盖N1-N5及E4-E7馆，以更大规模、更优产品、更多配套活动，连接供需资源，为科技引领高质量发展提供坚强后盾和有力支撑。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展览内容覆盖了激光及光学行业的各个面向，汇聚了研究和工业应用。Instrument Systems将携手精恩光学Giant亮相展会，诚邀您莅临参观交流，共探光电技术前沿趋势与产业合作机遇。 展会时间‌：2025年3月11日-13日 ‌展会地点‌：上海新国际博览中心-3号入口厅，N1-N5，E7-E4馆 交通指南：地铁7号线花木路站1号口直达，自驾可导航至P2停车场。 我们的产品亮点   CoboTop - AR/VR测试的自动化解决方案 LumiTop AR/VR - 近眼显示器测量系统 LumiTop 显示屏测量系统 XR设备测量用照明光源 DMS 904 - 车载曲面显示屏测量系统 VTC - VCSEL测量系统   思想碰撞，洞见未来   展会同期将举办200+场技术会议，涵盖超快激光、量子探测等前沿议题‌。   Light激光与量子国际会议 联合国宣布2025年为国际量子科学技术年（IYQ），会议将集中探讨激光与量子科技的趋势性研究进展及未来应用前景，致力于打造一个学术与产业深度融合的国际交流平台。   光学技术大会 聚焦行业热点话题，主题包括计算光学成像技术、超构光学表面技术、半导体光学技术、光学微纳检测、红外探测技术、激光器、激光技术等最新科技研发成果和进展，同时大会将聚焦半导体、新能源、汽车工程、人工智能、生物医疗等应用场景，更有多个光学主题培训班的加入，为光电人带来更多专业课程。 预约参观   扫描下方二维码即可提前预约领取参观证，我们准备了精美小礼品，期待与您共聚展位 ‌E7.7406‌ ，让我们的创新解决方案为您带来灵感。期待您的光临！   扫码免费领取参观证   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话未来！

作为亚洲激光、光学、光电行业盛会，2024年慕尼黑上海光博会将于3月20-22日在上海新国际博览中心隆重开幕。光学技术与激光技术在半导体检测、芯片制造、新能源汽车制造等领域发挥着关键作用，极大地推动了国家信息化建设和经济发展。 在此盛会上，Instrument Systems将与Giant精恩光学共同参展，在现场为您展示来自德国的前沿测量技术，并根据您的测量需求提供咨询服务。 我们的展位位于Hall W4 4417，热切期待您的光临! Instrument Systems 将会在显示技术、增强现实/虚拟现实（AR/VR）以及垂直腔面发射激光器（VCSEL）测量等领域展示一系列成熟且充满创新的解决方案。本届展会上，我们展台的一大亮点是全新一代的大尺寸和曲面显示屏测量解决方案。全自动的7轴 DMS 904 测角仪专为大尺寸显示屏的光学特性测试而设计，包括支持跨越整辆车宽度的Pillar-to-Pillar显示屏。   多位经验丰富的光学测量技术人员将在现场为您介绍光测技术，并针对您的测量需求提供最合适的解决方案。我们热切期待您的光临! 我们的测量应用 显示屏生产测量 LumiTop 4000显示屏系统一站测量显示屏的均匀度、偏色、闪烁、伽马值、缺陷检测 (Mura) 等特性。 AR/VR 测量 LumiTop AR/VR 及 DMS测角仪系统能检测及校正近眼显示器的均匀性、对比度、角度依赖性及色彩保真度等。 MicroLED 测量 LumiTop X150 高分辨率图像色度测量系统，适合 OLED 及 MicroLED显示器的亚像素分析及像素缺陷测试。 大型车载显示屏测量 DMS 904测角仪7轴联动，精确测量显示器的光电转换特性 (EOTF) 、开关速度、响应时间和 Flicker等 VCSEL 测量 VTC及PVT系列 VCSEL测量系统可根据国际激光安全标准 IEC60825 进行 VCSEL激光器的人眼安全测试，包括远场、近场及纳秒级的脉冲测量。 IR/NIR 测量 以CAS 140D IR高端光谱仪为核心的红外测量系统，可量测红外及近红外光源的光谱、功率、LIV曲线、光学输出的温度相关性及角度分辨测量。 我们期待在2024上海慕尼黑光博会与您相见！

据发现，VCSEL阵列在消费电子领域有着大量的应用，包括飞行时间（ToF）或3D传感中的结构光源，人脸识别（FR）、手势识别（GR）中的接近照明等等。本研究的重点是对整个VCSEL阵列和其中的每个发射器进行详细和全面的LIV测试、光谱和波束分析。 \\  对单个发射器进行2D LIV+λ检测的必要性 对于面部识别、3D传感、车内感应、激光雷达和测距等要求严格的应用至关重要 调查发射者之间的串扰 并行化测量，减少整体测量时间 LIV曲线是用激光二极管来确定电气和光学的工作特性最基本的测量方法。这些曲线建立了阈值电流、坡度效率、翻转点、是否存在任何扭结等。它们被广泛应用于不同的阶段，因为在制造过程的早期识别错误的DUTs是至关重要的。 整个VCSEL阵列的LIV特征   从200 mA到1.8 A测量整个阵列的L-I和I-V曲线 根据L-I曲线计算出坡度效率、阈值电流和翻转电流 在I-V曲线中，电压随预期的电流的增加大致呈线性增加  整个阵列中所有发射器的LIV特性   在此测量中使用的VCSEL阵列由281个发射器组成 测量了每个发射器的斜坡效率和阈值电流 外部发射器具有较高的坡度效率，但阈值电流较低 内部发射器在这两个量上都有微小的变化 除了LIV曲线外，我们还测量了不同电流下单个发射器（选择阵列选择15个发射器）的光谱，与LIV曲线相似。光谱如下图所示。每个子图表示一个发射器，其光谱在不同的电流下用颜色编码（蓝色在400 mA到红色在1.8 A）。我们观察到在较高的电流下的频谱位移，高阶模式也随着电流的增加而出现。 \\  结论 我们扩展了现有的一维LIV测试、光谱和光束分析，延申到覆盖VCSEL阵列里的每个单个发射器。这种方法不仅实现测量的并行化，缩短总体测量时间，还提供了研究个别发射器之间相互影响的机会。 VTC 4000：灵活、精确的单发射器分析 我们独特的测量解决方案，具有从客户那里定义良好的要求，允许识别阵列中性能不佳或规格不佳的发射器。我们相信，这种全面的表征单个发射器是至关重要的要求苛刻的应用。这使得VCSEL制造商能够确保最终产品的合规性，而不会产生任何包装成本，并加快制造过程。

\\ 德国Instrument Systems最近发布的LumiTop X20和X30成像色度计，为特殊亮度条件下的显示屏测试提供先进的解决方案。这两款色度计拥有卓越的性能，包括高分辨率（20 MP和31 MP）和广泛的动态范围（从mcd/m²到Mcd/m²），特别适用于均匀性测量和错误检测。 LumiTop X20 和 LumiTop X30 专为特殊亮度下的显示屏生产测试而设计。经过光谱优化的 LumiTop 技术深受客户信赖，是显示屏质量保证的强大工具。这项技术让显示屏制造商能够在广泛的亮度范围内进行测试，包括从高亮度的数百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考虑了人眼对于不同亮度的适应性。 当今的显示屏具备先进的亮度功能，可以智能调整亮度以提高用户体验并减轻眼睛疲劳。因此，在设计和制造显示屏时，进行准确的亮度和颜色测试尤为关键，特别是在低亮度条件下的性能测试。LumiTopX20和X30成像色度计配备高分辨率相机（20MP和31MP）、高精度电动镜头实现的弹性视场角(FOV)，以及广泛动态范围，成为理想的测量工具。 除了卓越的设计，LumiTop X20和X30还具备全新的闪烁传感器，适用于1 Hz到1 kHz的频率范围。通过LumiTop系列成像色度计，结合高分辨率相机、快速光度计、闪烁传感器和CAS高精度光谱仪，Instrument Systems持续引领显示屏测量技术领域，为低亮度和高亮度条件下的显示屏质量提供可靠的保障。   LumiTop 测量解决方案是广受业界信赖的的显示屏测量标准。若您有任何关于显示屏和Mini/MicroLED测量的问题，欢迎随时和我们联系（[email protected]），从精恩光学光测团队获得解决方案。