在显示器生产期间实施快速准确的光学测试
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平板显示器是许多消费电子设备的主要部件,例如智能手机和电视。显示器质量是一大卖点。因此,生产线对显示器质量的控制至关重要:准确、快速测量人眼的决定性参数成为显示器制造商能否取得成功的关键因素。
对显示器实施线上质量控制的一些关键检验变量:
- CIE 1931 亮度Lv
- CIE 1931 色坐标 x 和 y
- 横向均匀性、伽马曲线、色空间、白点等
OLED 和 µLED 等创新技术推动着显示器不断发展,例如色彩更饱和、解析度更高、外形更灵活多变等。因此,生产期间为控制显示器品质而进行的光学测试的要求变得越来越严格。
测量仪器必须符合严格的规格,才能确保满足生产优质显示器不断提高的品质要求。实现严格的品质控制需要使用创新的测量解决方案和可靠、功能强大、解析度不断提高的光学测量仪器。此外,要实现较低的显示器生产成本,还需满足几个特定要求:
- 较短的测量时间
- 自动化全天候使用
- 在严苛的生产环境(温度、粉尘、湿度等)下可靠稳定
解决方案:Instrument Systems 提供的光谱优化型 LumiTop 测试系统和通用型 DTS 140 显示器测试系统
Instrument Systems LumiTop 测量系统具备对于生产缐来说至关重要的高测量精度、速度和可靠性。它们可以轻松集成到各种生产环境中,已得到全球领先的显示器制造商的广泛采用。
无论测试样本采用何种技术(OLED、LCD、QD-LCD、µ-LED 等),LumiTop 系统都能确定显示器的均匀度、图元缺陷(不均匀)和伽马指数等资料。该创新概念将三个感测器集成到一个系统:高端 CAS 140D 光谱仪、高解析度成像色度测量仪和光电二极体。
Instrument Systems 提供几种解析度各不相同的 LumiTop 型号,每个颜色通道高达 600 Mp,能够实现精确到图元级別的显示器分析 (LumiTop X150)。
通用型 DTS140 显示幕系统被用于实施品质控制,是实验室中使用的标准设备。该产品基于 CAS 140 系列高端光谱仪和 TOP 200 光学探头。该系统能够以高精度测量和分析显示幕的微小特征和区域。不同的镜头和光圈可以确保提供高度灵活性。
对于显示器测量,您面临着哪些特有的挑战?我们将和您一起寻找合适的解决方案—敬请垂询!
基于我们多年的经验和丰富的专业知识,我们能够为生产客户提供一流的测量解决方案。
我们的一体化解决方案包括
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- 自定义审查解决方案 (对摄像头和分光仪实施审查)
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