Instrument Systems 光谱仪编程接口
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光谱仪软件开发工具包
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系统范例
搭载光谱仪软件开发工具包
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DMS 显示屏测量系统
用于角度分析显示屏特征测定的一体化解决方案
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
LumiTop 显示屏生产测试
用于生产缐质量控制的一体化解决方案
NVIS 显示屏测量系统
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
VCSEL 测量系统
使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
VCSEL 生产测试系统
脉冲 VCSEL 的完整特性测定
仪器介绍
测量应用
产品特长
仪器介绍
测量应用
产品特长
用于将光谱仪集成到现有软件中的开发工具
Instrument Systems 为 LabVIEW 提供设备 DLL 和驱动程序，用于从您自己的程序控制光谱仪。这将使您能够按照自己的测量程序控制光谱仪，並将其与其他设备一起操作。
除 Windows DLL 外，SDK 还随附了全面文档，包括采用各种编程语言的示例程序。用于 LabVIEW VI 的驱动程序作为选项提供。
面向程序员的开发工具
设备 DLL 允许直接控制所有光谱仪功能並捕获光谱和由此派生的所有结果。库中包含计算辐射、光度和色度值所需的全部功能。
除了更复杂的计算，如色座标（CIE1931、CIE1960、CIE1976）和显色指数（CIE13.3.95、DIN6169、TM30-15）函数，MultiTrack 或 Auto-Range 等功能也可用于轻松高效地控制生产和实验室中的广泛测量任务。
此外，通过监控感测器温度和光谱仪状态，可增强流程的可靠性。
LabVIEW 驱动程式对应于相应设备 DLL 的扩展，並使其功能以 LabVIEW VI 的形式提供。
为了方便快速入门程式设计，除了全面文档外，还有许多通用程式设计语言的代码示例和用于 LabVIEW 实施的示例 VI。
测量应用
产品特长
- 对光谱仪界面进行编程
- 计算辐射、光度和色度量
- 自动暗电流测量
- Auto-Range 功能
- 参数集定义
- 用于超快速捕获光谱的 MultiTrack 功能
- 状态监控
- 透射测量性能
系统范例
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蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DMS 显示屏测量系统
用于角度分析显示屏特征测定的一体化解决方案
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
LumiTop 显示屏生产测试
用于生产缐质量控制的一体化解决方案
NVIS 显示屏测量系统
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
VCSEL 测量系统
使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
VCSEL 生产测试系统
脉冲 VCSEL 的完整特性测定
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DMS 显示屏测量系统
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基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
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利用积分球测定光通量和色度
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使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
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依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
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VCSEL 测量系统
使用低至 0.12 nm 的光谱分辨率测定 VCSEL 特性
VCSEL 生产测试系统
脉冲 VCSEL 的完整特性测定
