系统 | Giant Testing Equipment Company Limited

Instrument Systems的红外辐射测试系统采用模组化设计，可依据客户需求打造更合适的测量系统。既适用于实验室环境，也适用于自动化生产测试。我们的应用专家能为所有种类的红外发射器配置测量系统，以测量例如窄带光源，镭射二极体/VCSELs，以及LED和其他宽度的发射器等。

我们的系统解决方案由以下器件构成：

经校准的辐射测量设备
可选电流源和待测物控温装置
软体模组

关键特性:

高测量精度，可弹性扩展的模组化设计
宽光谱范围(200 – 2150 nm)
可追溯至国家实验室的校准 (PTB 或 NIST)
集成待测装置的温度控制和电源供应
脉冲发生器和脉冲测量(包括 µs 脉冲)

测量挑战

要精确测量窄带发射器—例如镭射二极体和VCSEL—需使用具高光谱解析度的光谱仪。为此应用，我们研发了涵盖近红外范围的CAS-HR系列光谱仪，其光谱解析度可达到0.09纳米。此外，针对脉冲式红外发射器的量测需求，我们使用快速光电二极体来实现特別高的测量速度。对于宽频红外发射器的测量，则可选配具有宽光谱范围的光谱仪。

为精确表征红外发射器的特性，需测量其在不同电流和温度下的光输出。利用我们的红外测量系统，可以轻松控制电流源以及各种温度条件。

用于测定红外发射器特性的标准系统包括：

部件	描述
光谱仪	CAS 系列 (200-1100 nm) 或 CAS IR 系列 (780-2150 nm) 或 CAS-HR 系列 (800-1000 nm) 另有其他高解析度版本的CAS IR 红外系列，更多资讯请联系我们 (例如 1310 nm-1440 nm; 光学解析度 <1 nm版本)
光度计（可选）	用于功率测量，经校准的光电二极体 (800-1000 nm) 可选：用于功率测量，经校准的光电二极体 (800-1650 nm) 脉冲的时间解析度测量 (>1 µs)
测量转接头 / 配件	ISP 系列积分球 EOP 系列辐照度光学探头 LEDxx 光强探头 TOP 系列辐照度探头 LEDGON 及LGS 系列配光测角仪
校准	校准可追溯至PTB 或 NIST等国家标准
软体	SpecWin Pro/Light 实验室软体模组光谱仪 SDK (CAS-DLL)，可集成至生产制程中
电流源 (可选)	Keithley 24xx/26xx 电流源 Vektrex SpikeSafe SMU 恒定或脉冲式电流 (>1µs)
温度控制 (可选)	Arroyo TEC source/mounts 温度范围: 15-150 °C
LED 校准标准 / 查核标准 (可选)	ACS-570-15/-17 (860 nm 及960 nm) 可选: IR ACS (1200 nm, 1300 nm, 1450 nm)

客制化系统配置

Instrument Systems的红外测量系统解决方案具备高度灵活性，有各式高精度光谱仪、光度计及丰富配件可供选择，非常适合用于开产品发或生产制程中。

我们的光学量测专家乐意为您的特殊应用提供实用建议。若您有任何关于红外发射器产品测量的问题，欢迎随时和我们联系，从我们的团队获得解决方案。