用于测量光度量的良好配件
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辐照度
辐射度和亮度
LED 测量套筒
应用
辐照度
辐射度和亮度
LED 测量套筒
应用
EOP – 用于测量辐照度的光学探头
Instrument Systems 提供一系列用于测量辐照度和通用辐射耦合的 EOP。这些 EOP 的主要差別在于光输送量、馀弦修正度数和光谱范围。所有 EOP 光学探头都包含一个用于散射入射光的漫射器。在漫射器的后面是光纤的进口面，光通过它耦合到光谱仪。
应用
对于一般应用，建议使用光学探头 EOP 120 和 EOP 121（横向纤维束连接器），因为它们可以在好的馀弦修正和好的光输送量之间实现良好折衷。
需要非常好的馀弦修正来测量扩展光源，儘管这总是以光输送量为代价。光学探头 EOP-146 适合此用途。
光学探头 EOP 140 仅适用于需要高光输送量的应用。型号 EOP 542 适用于固定视场 (5.7º) 测量，主要用于测量直射阳光。
Instrument Systems 提供积分球 ISP 40，可以广泛的光谱范围实现更优化的馀弦修正。由于球的积分效应，无论光束收敛还是发散都会捕获整个光束，並通过光纤束与光谱仪耦合。
产品类型
| 型号 | 余弦校正精度 | 光传导率 | 光谱范围 | 用途 |
| 配光纤束连接 | ||||
|
EOP-146 |
良好 |
中等 |
190-2500 nm |
用于发散光源 |
|
EOP-120 |
中等 |
良好 |
190-1700 nm |
通用 |
|
EOP-121 |
中等 |
良好 |
190-1700 nm |
通用， 扁平造型 |
|
EOP-140 |
低 |
高 |
190-2500 nm |
弱光辐射 |
|
EOP-542 |
n/a |
高 |
190-2500 nm |
5.7° 视野 |
| 配 SMA 光纤连接 | ||||
|
EOP-350 |
很低 |
良好 |
190-5000 nm |
红外缐 |
| Integrating sphere | ||||
|
ISP40-101 |
优良 |
低 |
220-2500 nm |
Spectralon 图层，测量紫外缐 |
|
ISP40-102 |
优良 |
低 |
240-2600 nm |
硫酸钡（BaSO4）涂层，测量宽光谱范围 |
TOP 200 –用于辐射和亮度测量的光学探头
TOP 200 光学探头基于普里查德式光学设计，带有集成式取景相机。
产品特长：
- 普里查德式光学设计配有倾斜度仅 15º 的孔镜，可以提供非常圆的清晰图像点
- 光纤的灵活连接和获取可重现读数的专利模式混合器，以及非常低的偏振灵敏度
- 可通过软体选择的 6 种测量点大小
- 具有宽视场的内部取景相机
- 下限的测量点：80 µm
- 测试对象的可选照明
TOP 150 是具有单孔径的低成本替代产品。
测量应用
测得的辐射强度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。Instrument Systems 的专利模式混合器可确保光纤中的光透射均匀，即使光纤位置改变，也可产生可重现读数。
普里查德原则支持在测量过程中观察视场，並监控视场进行准确定位。取景相机的图像由 SpecWin Pro 软体自动导入並与读数一起保存。
产品类型
| 型号 | 描述 |
| 基本规格和光纤 | |
|
TOP200-100 |
光学探头的基本规格，带多模光纤和光纤束连接器 （无镜头和光纤） |
|
TOP200-203 |
带模式混合器和 PLG 适配器的多模光纤（长度为 2.3 mm）； 300–2200 nm |
|
TOP200-204 |
带模式混合器和 PLG 适配器的 UV 多模光纤（长度为 2.3 mm）； 190–1350 nm |
|
TOP150-100 |
基于Pritchard光学原理的基本伸缩光学探头，具有单光圈和集成取景器摄像头（不含镜头和光纤） |
| 镜头和微距镜头 | |
|
TOP100-308 |
定焦镜头 28 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
|
TOP100-311 |
定焦镜头 60 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
|
TOP100-322 |
定焦镜头 105 mm; F/4,8; 200–800 nm |
LED 4xx – 光强度测量套筒
Instrument Systems 开发了各种用于测定 LED 平均光强度 ILED-B [cd] 的测量套筒。这些套筒视可用光谱范围（仅可见或 UV）、测量几何结构和计画的应用（实验室或生产）而异。
测量套筒包含一个形成正好 1 cm² 灵敏探测器表面的漫射器。在漫射器的后面是光纤束，光束通过它耦合到光谱仪中。此设计的特点是高光输送量和探测器表面足够的同质性。因此，LED-4xx 系列测量套筒特別适合低光 LED，並用于快速生产测试。
测量应用
LED 4xx 测量套筒可接受 LED 5xx、LED 6xx 和 LED 81x 系列的所有测试夹具。夹紧机构可始终确保 LED 的可重现且精确对准。缩短版测量套筒可用于生产（例如，用于安装在 LED 处理机上）。
对于需要较高精度的应用，开发了光学探头 LED 25，用于根据 CIE 127 测定“平均 LED 强度”。后者基于积分球，因此即使光输送量减少，也会在整个探测器表面提供同质光敏度。
产品种类
| 型号 | 光谱范围 | 测量几何 | 结构类型 |
| 用于实验室应用的测量套筒 （配 LED 测试夹具） | |||
|
LED-436 |
可见光-红外缐 |
CIE ILED-B |
馀弦接收器 |
|
LED-437 |
紫外缐-可见光-近红外缐 |
||
|
LED25-431 |
紫外缐-可见光-近红外缐 |
CIE ILED-B |
积分球 |
| 用于生产缐应用的删减型测量套筒 | |||
|
LED-433 |
可见光-红外缐 |
CIE ILED-B |
馀弦接收器 |
|
LED-434-B |
紫外缐-可见光-近红外缐 |
||
|
LED-453 |
可见光-红外缐 |
50 mm 测量距离下 0.01 sr |
|
|
LED-454 |
紫外缐-可见光-近红外缐 |
||
|
LED-439 |
可相接 LED-43x 和 LED-45x 的扩展型号 |
||
|
LED25-235 |
CIE ILED-B |
积分球 |
|
系统范例
搭载光学探头
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
NVIS 显示屏测量系统
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
NVIS 显示屏测量系统
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
NVIS 显示屏测量系统
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
蓝光危害测量
依据 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 标准测定蓝光危害
DTS 显示屏测量系统
基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
红外量测系统
快速而精确地测量2150 nm以下的红外发射器
LED / SSL 测量系统
利用积分球测定光通量和色度
LEDGON 测角仪系统
遮光 LED 测试系统 - 完整紧凑
LGS 测角仪系统
测定 SSL 光源的空间辐射特性
NVIS 显示屏测量系统
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 标准的测量
UV-LED 测量系统
实验室中灵敏精准的 200 nm 以上 UV 测量
