第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）將於2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。身為全球光電全產業鏈旗艦展會，本屆匯聚全球3800+企業，聚焦資訊通訊、精密光學、攝影機技術及應用、雷射製造、紅外線紫外線、智慧感測、新型顯示器及AR/VR等八大前沿領域。 CIOE中國光博會與SEMI-e深圳國際半導體展暨2025積體電路產業創新展（SEMI-e）將同期舉辦，共同打造30萬㎡光電技術與半導體產業鏈的饗宴。   雙展同期將全面涵蓋‌積體電路、分離式元件、光電子元件、感測器‌四大半導體核心領域，深度完善半導體產業鏈佈局，共同服務顯示、資料中心、汽車等多個交叉領域的廣泛觀眾。   Instrument Systems攜手精恩光學Giant亮相本次展會，為您提供精確測量OLED/microLED顯示器、AR/VR近眼顯示器、VCSEL/IR雷射源、車載顯示器及照明等的系統解決方案。誠摯邀請各界朋友、專家蒞臨參觀我們展位，溝通交流，共探光電技術。   展位資訊   時間：2025年9月10-12日 地址：深圳國際會展中心(廣東省深圳市寶安區福海街道展城路1號) 展館：3號館（精密光學展&攝影機技術及應用展） 展位：3A40-9 展示重點   CAS 140D 高精度陣列光譜儀   CAS 140D 是IS光測推出的第四代陣列式光譜儀，儀器採用經過驗證的交叉Czerny-Turner 結構，內置帶冷卻功能的CCD 探測器，在提升測量效率的同時，有助於實現穩定且可重複的測量結果，並具備良好的雜散光抑制效果和短積分時間精度，適用於對光譜分析有多種要求的應用場景。   LumiTop X20 / X30 - 高解析度成像色度計 20 MP 及31 MP 的高速成像亮度與色度測量，支援從mcd/m² 到Mcd/m² 的寬動態範圍；適用於低亮度測量，具備優化的靈敏度表現；配備高曲線的電子自動對焦功能；評估亮度與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪曲線、白點對比度可進行測量時間與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪、白點對比時間進行測量時間值   LumiTop X150  - 用於亞像素級顯示測量的高解析度系統   LumiTop X150 搭載150 MP RGB 影像感測器，並結合2×2 像素位移技術，可產生高達600 MP的X、Y、Z 影像，適用於MicroLED 和OLED 等高解析度顯示器的二維光學測量。 此系統支援在亞像素層級進行亮度與色度的影像分析，有助於實現顯示校準、像素缺陷檢測等應用。 基於成熟的LumiTop 設計，X150 在提升成像精度的同時兼顧測量效率，適用於生產測試與研發驗證等多種使用情境。   CoboTop - 面向AR/VR 測試的自動化解決方案   CoboTop 是一款基於協作機器人（cobot）的自動化測試平台，由Instrument Systems 與柯尼卡美能達旗下的CoboSense 團隊共同開發，結合TOP 300 光學探頭，實現近眼顯示器的自動化測量流程。此系統適用於AR/VR 設備的生產和品管環節，可提升測試效率、重複性和操作一致性，為顯示製造商帶來更可靠的測量支援。   LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統 LumiTop 5300 AR/VR 配備2,400 萬像素高解析度成像感測器和直視鏡頭，適用於在顯示器安裝至頭戴裝置前進行二維測量，滿足特定生產環境下的測試需求。光譜增強型LumiTop 4000 AR/VR（1,200 萬像素）搭載潛望式鏡頭，可實現已安裝在頭戴裝置中的AR/VR 顯示器進行雙眼視角的平行測量，適合用於成品設備的2D 顯示性能驗證。   同期活動   同期超90場會議，產、學、研、用四位一體助你看發展！中國國際光電高峰論壇包括產業論壇、CIOE&YOLE國際論壇、光+應用論壇及OGC全球光電大會，產業、學術、終端大咖都在這裡！其中，產業論壇議題涵蓋資訊通訊、光學、雷射、紅外線、量子等板塊。   部分論壇列表......   預約參觀   掃描下方二維碼，即可觀眾預先登記   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話光測未來！   我們期待在2025CIOE中國光博會與您相見！

春意漸濃，萬物煥新。 2025年3月11-13日，‌作為亞洲雷射、光學、光電產業的年度盛會，慕尼黑上海光博會‌將於上海新國際博覽中心迎來20週年盛典。   本屆展會共9個展館，較上屆增加34%，涵蓋N1-N5及E4-E7館，以更大規模、更優產品、更多配套活動，連結供需資源，為科技引領高品質發展提供強大後盾和強力支撐。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展覽內容涵蓋了雷射及光學產業的各個面向，匯集了研究和工業應用。 Instrument Systems將攜手精恩光學Giant亮相展會，誠摯邀請您蒞臨參觀交流，共探光電技術前沿趨勢與產業合作機會。 展會時間‌： 2025年3月11日-13日 展地點‌：上海新國際博覽中心-3號入口廳，N1-N5，E7-E4館 交通指南：地鐵7號線花木路站1號口直達，自駕可導航至P2停車場。 我們的產品亮點   CoboTop - AR/VR測試的自動化解決方案 LumiTop AR/VR - 近眼顯示器測量系統 LumiTop 顯示器測量系統 XR設備測量用照明光源 DMS 904 - 車載曲面顯示器測量系統 VTC - VCSEL測量系統   思想碰撞，洞見未來   展會同期將舉辦200+場技術會議，涵蓋超快雷射、量子探測等前沿議題‌。   Light雷射與量子國際會議 聯合國宣布2025年為國際量子科學技術年（IYQ），會議將集中探討雷射與量子科技的趨勢研究進展及未來應用前景，致力於打造一個學術與產業深度融合的國際交流平台。   光學技術大會 聚焦產業熱門話題，主題包括計算光學成像技術、超構光學表面技術、半導體光學技術、光學微納檢測、紅外線探測技術、雷射、雷射技術等最新科技研發成果和進展，同時大會將聚焦半導體、新能源、汽車工程、人工智慧、生物光學等應用場景，更有多個主題培訓班的加入，為光電人帶來更多專業課程。 預約參觀   掃描下方二維碼即可提前預約領取參觀證，我們準備了精美小禮品，期待與您共聚展位‌ E7.7406‌，讓我們的創新解決方案為您帶來靈感。期待您的光臨！   掃碼免費領取參觀證   精恩光學深耕光學領域十餘載，致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示，更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破，還是探索合作可能，精恩團隊都已整裝待發，期待與您共話未來！

作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。

德國IS光測與GIANT精恩光學將聯手展出各類顯示器、AR/VR 裝置、紅外線感應器及VCSEL 的測量解決方案。 國際全觸與顯示展(C-TOUCH & Display 2023) 將於2023年10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦。同期將結合新型顯示技 術、Mini/Micro LED、AR/VR穿戴電子技術、智慧觸控技術、全像顯示器、智慧座艙及車載顯示器、智慧商顯、5G工業互聯等熱門話題，設置特色展區及50餘場主題高峰論壇與研討會，以及新品發表會集中展示前沿產業動態及發展趨勢。 光學測量儀器領導品牌Instrument Systems與GIANT精恩光學，將亮相2023國際全觸與顯示展，為您介紹最新的高品質顯示器量測技術。擁有豐富的解決方案、尖端技術及多年經驗，Instrument Systems 是您在新型顯示器生產測試、AR/VR 近眼顯示器、MicroLED 晶圓及VCSEL 測量等應用的首選合作夥伴。 歡迎蒞臨我們的攤位：8號展館8E11 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 您需要測量什麼產品？ 顯示器生產測量 一站偵測顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性 AR/VR 測量 近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度檢測及校正 MicroLED 測量 OLED 或MicroLED顯示器的亞像素分析及像素缺陷測試 車載顯示器測量 符合OEM 合規準則要求的車內顯示器及光學元件測量 VCSEL 測量 發射功率、VCSEL 陣列的均勻性、太空輻射特性，以及奈秒脈衝測量     IR/NIR 測量 光譜、功率、LIV 曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量 我們將在現場展示LumiTop 顯示器生產測試系統，LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統，DMS 測量系統等，產品覆蓋Mini/Micro LED、OLED、AR/VR穿戴式電子、智慧觸控、全像顯示器和車載顯示等領域。 歡迎蒞臨我們在C-Touch的展位，以獲得更多資訊！

第四屆深圳Mini/Micro-LED產業鏈創新發展高峰論壇邀請演講： 《晶圓上μLED 和微型顯示器的快速測試》 Mini/Micro LED產業發展如火如荼，隨著Mini/Micro LED 技術不斷突破，Mini LED應用市場正高速成長，Micro LED進入量產元年。第四屆深圳國際Mini/Micro LED產業鏈創新發展高峰論壇(IMCS 2023)將於10月12日於深圳全觸展同期舉辦。 Instrument Systems受主辦單位邀請，資深應用工程師朱天行先生將進行主題演講《晶圓上μLEDs 和微型顯示器的快速測試》，介紹透過軟體在晶圓或顯示器影像中尋找、定位和分析單一發射器的方法，重點是極快的分析演算法，為每一個單一的發射器提供精確的光學計量參數，敬請大家期待！ 時間： 10月12日| 15:30-15:50 地點：深圳國際會展中心(寶安新館) 6/8號館(二層) 會議室 論壇主題：與產業鏈同行-掘金MLED未來 講者：朱天行先生 大會背景： 目前，隨著Micro LED量產元年的到來，MLED產業將迎來爆炸性成長。數據顯示，2022年Mini LED面板出貨超1800萬片，年增88%，到2026年將超3700萬片；2025年可穿戴品牌預計導入Micro LED，2027年Micro LED在可穿戴應用市場出貨可望突破1000萬片，Micro LED在VR/AR市場出貨將達670萬片。為了搶佔第三代顯示技術龐大的市場機遇，各Mini/Micro-LED產業鏈廠商湧入，透過協同創新打通Mini/Micro-LED產業鏈，完善Mini/Micro-LED產業生態，加速了Mini/Micro -LED產業化。 Mini LED背光可改善色域，提高HDR及降低耗能，助推液晶顯示升級，從2019年開始逐步導入電競筆電、高階電視等應用。2021年，蘋果iPad Pro、MacBook Pro引入Mini LED背光之後，Mini LED背光開始全面開花，進一步加速向車載顯示器、平板電腦、筆記型電腦、電視、顯示器以及VR等領域滲透，展現出巨大的發展潛力，是2023年一股強勁的成長力量。 Micro LED集低功耗、高亮度、超高解析度與色彩飽和度、反應速度快、超省電、壽命較長、效率較高等優點於一身，兼具OLED、LCD的顯示技術優勢，同時具有無縫拼接等特點，Micro LED在100吋以上尺寸顯示應用、可穿戴設備、AR等具有良好的發展前景。目前，Micro LED技術點不斷突破，已打通背板、驅動補償、LED晶片、轉移等關鍵技術，產業鏈加速融合，進入量產元年… 朱天行先生，擁有多年光學測試系統的設計與最佳化經驗。目前正專注於光學和AI的結合研究和應用。研究涉及深度學習演算法在光學檢測和影像處理領域的應用。如果您有任何Mini/Micro-LED技術或測量問題，歡迎隨時與我們聯絡~ -INVITATION- Instrument Systems 聯合Giant精恩光學將亮相10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦的2023年國際全觸與顯示展。經驗豐富的光學測量技術人員將在展位 8號館 8E11 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！

汽車前照燈的良好性能，是確保道路及駕駛安全性的關鍵。道路行駛的環境複雜多變，氣候條件、道路照明、行人密度、前方車輛距離、公路或彎道等，都影響著駕駛者的視野。過去只分近光及遠光的照明模式，無法依據變化多端的行駛條件改變頭燈配光，容易產生照明死角或眩光。 為了提高行車安全與舒適度，近年來，各大汽車製造商紛紛裝備了能主動配合道路環境的自適應前照燈系統（AFS - automotive adaptive forward lighting system）。其中，使用MicroLED陣列的前照燈有發光效率高及配光靈活的優勢，是智能車燈發展的主流之一。 此篇測量應用將探討測量MicroLED車燈陣列的特點，並介紹IS光測系統的測量解決方案。 \\   1. 待測物：MicroLED 汽車車燈陣列 自適應前照燈系統可以根據車輛行駛環境來動態調整光輸出模式。例如在光錐中偵測到對向來車時，自動調暗對其的燈光照射，防止駕駛被眩暈。近期的前照燈採用超過1000個像素的MicroLED陣列作為光源。由於每個像素都可以單獨控制，因此能實現更精細的光束控制（圖1）。這類"數位頭燈"甚至能在道路上實現投影（圖2）。 ▲ 圖1 : 用於AFS 的MicroLED 陣列示意圖。 ▲ 圖2 : 數位光源可在道路上投影。(圖像來源：Mercedes-Benz) \\   2. MicroLED 陣列車燈的測量要求和挑戰 為了精確控制車燈質量，必須能測量單個LED的均勻性、亮度及色彩，並定位陣列中的單顆LED缺陷。 挑戰1：溫度影響測量結果 測量高功率LED的主要難題，是LED通電時會自發熱，進而造成光輸出下降及顏色漂移（圖3）。   ▲ 圖3 : 白光LED通電後亮度（紅色）和色溫（藍色）的典型漂移。 解決此問題，需從以下兩方面著手： 提高測量速度，排除過大的色溫漂移 測量程序與電源同步，在LED通電的瞬間便進行量測。 挑戰2：在高速測量下維持高精度 傳統的單顆LED 逐步測量法，對集成1000 多顆MicroLED 的矩陣來說過度耗時（方法A）。如使用基於攝像機的二維測量系統，則可以同時測量所有LED，測量速度提高許多（方法B）。但此方法需要高水平的測量系統，來達成測量MicroLED 所需的精度。 測量方法 A: 單一測量法， 每顆LED分開測量 B: 二維測量法， LED陣列一次測量完成 系統 光譜儀與積分球， 一次點燃一顆量測 基於攝像機的系統， 通過拍攝一次測量所有LED 優點 高精度測量LED功率和光譜 非常快速地測量LED功率及顏色 缺點 費時 如何實現攝像機採集信息的  高精度是一大挑戰 \\   3. 解決方案：LumiTop – 光譜增強的產品成像色度測量系統 LumiTop 系統解決方案結合上述單一測量法及二維測量法的優點，並克服了高功率LED 的發熱問題。 ▲ 圖4 :  LumiTop 2D 測量系統 LumiTop系統設計 LumiTop 2D 測量系統包含LumiTop 4000 成像色度儀及CAS 140D 高精度光譜儀，兩者通過光纖連接（圖4）。集成分光器的設計，使RGB 相機和光譜儀可以同步量測。如圖5所示，光譜儀從待測物的中心點採集高精度的光譜信息，成像色度儀則同時測量整個LED 陣列，再以光譜信息為參考基準調整參數，從而提高整個二維圖像的測量準確性。 根據修正後的二維測量數據，可有效評估整個LED 陣列的均勻度、亮度和單個LED 的顏色，並精準地找出LED 缺陷（圖6）。LumiTop 測量系統是根據亮度（cd/m2）校準，這也是測量二維發射器發光特性的標準。 ▲ 圖5 : 光譜儀參考點光譜。 ▲ 圖6 :  2D 測量結果：LED 均勻度圖。 避免 LED 發熱問題 傳統的二維攝像機基於彩色濾光片，需要至少三次的連續顏色測量(紅、綠、藍）。此測量方法通常費時數秒，而測量時因為LED 不停發熱，顏色、光強一直處於變化狀態，導致測量結果不准確。 我們研發的LumiTop 系統，可以通過一次拍攝所有的顏色通道，解決LED 的發熱問題。該系統使用RGB 攝像機，並搭載拜爾濾色鏡，能實現毫秒級速度的二維顏色測量。因此，LumiTop系統也適合用於生產製程的在線測試。通過硬件觸發源，LumiTop 可以在LED 通電的同時攝像，在LED發熱前就已完成量測。 高精度的測量結果 除了溫度上的挑戰，LumiTop系統還克服了測量精度上的挑戰。為了達到測量MicroLED陣列要求的精度，LumiTop與光譜輻射計相配合，將攝像機的測量結果校正至精確水平（圖4）。測量系統的校準（Absolute System Calibration）是此解決方案能確保高精度的關鍵：Instrument Systems的每套系統在發貨前，都經過我們ISO 17025 認證測試實驗室的精度驗證。 基於其儀器設計、精度、速度和分辨率，帶100mm鏡頭的LumiTop 4000適合用於實驗室的LED陣列測量或AFS應用的生產在線測試。 如果您需要更多關於MicroLED測量的信息，可隨時與我們聯繫。我們的測量團隊很樂意為您的特殊應用提供實用建議。請聯繫：[email protected]

2023年起， 德國國家認可機構（DAkkS）擴大了Instrument Systems 的認可範圍，使我們能在客戶的LGS, DMS及AMS測角儀安裝場地為DSP系列光度計進行符合ISO 17025標準的測試及調整，並提供測試證書。 此外，3月和4月，我們分別將在德國電子顯示會議(EDC)和中國國際顯示技術會議(ICDT)上，分享關於顯示器檢測和µLED 及微顯示器檢測的最新技術報告。更多細節請參見下文。期待您的參加！ -INVITATION- \\  國際顯示技術會議ICDT邀請演講:  《快速測試晶圓上µLED及微顯示器的方法》 時間：4月2日| 17:10-17:30 (在線直播)  論壇24：Micro-LED 工藝和評估  講者：Dr. Tobias Steinel   精彩內容： MicroLED顯示器具有對比度高、響應時間快速、色域廣泛、低功耗和使用壽命長等特點，因此是備受業界期待的新一代顯示技術。然而，MicroLED技術在光學質量控制方面很具挑戰性，尤其是窄帶MicroLED。在演講中，TobiasSteinel博士將說明如何通過軟件，在晶圓或顯示器圖像上查找、定位及分析單個發射器。以及如何通過高速演算法，為每個發射器提供準確的光學計量參數。  更多信息>>    -INVITATION- \\   EDC 2023:  Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology 在2023年的EDC紐倫堡電子顯示會議上，Instrument Systems將就“全局和滾動快門圖像偽影的特徵及預防”這一主題發表演講。我們的產品經理Andreas Liebel將討論光度計相機的快門類型對圖像偽影的影響，並提出解決方法，以確保在高精度顯示器測試時避免這些偽影。現代的高端顯示器具有動態調節刷新率和脈衝寬度的特性，以節約能源並根據屏幕內容動態調整。這些特點為顯示測試系統提出了新的挑戰，並可能導致圖像偽影的產生。  更多信息>>    -INVITATION- \\  在客戶設備的安裝現場進行符合ISO 17025標準的測試服務 自2023年1月起，Instrument Systems提供其LGS和AMS大型測角儀設備在客戶現場的安裝位置進行ISO 17025合規光強度的測試服務。這樣，即使DSP 200和DSP 10光度計在運行地點進行測試和校準，客戶也可以獲得符合ISO 17025標準的測試證書。   以前，現場測試的認可僅適用於Instrument Systems的DMS顯示測量系統。德國IS光測的客戶現在可以在自己的運行場所對DSP 200和DSP 10光度計進行測試和調整，並獲得符合ISO 17025標準的測試證書。這意味著質量控制和COP測試可以持續進行，而不必中斷操作並將設備拆卸送回原廠。認證的具體範圍請見DAkkS證書。  更多信息>>    -INVITATION- \\   Information Display 雜誌專訪企業故事 在過去的六十年裡，發光器件如發光二極管（LED）經歷了一個激動人心的演變。它們從指示燈和數碼顯示器中微弱的紅光開始，發展到點亮電視屏幕，並成為照明家庭和街道的白光。   從一開始，總部位於慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的發展及其蓬勃發展的應用領域。Instrument Systems成立於1986年，是由Richard Distl在贏得德國青年研究競賽后所創辦。現在則是高精度光譜儀、定制系統和用於光譜光測量的軟件解決方案的領先光學設備製造商...... 採訪內容由Prachi Patel發表在InformationDisplay 1/23。  更多信息>>    我們的測量團隊很樂意就您的特定應用提供專業建議，請隨時向我們諮詢：[email protected]。