在晶圓上完整表述 LED 芯片的特性
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LED 生產測量
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精准測量，確保准確分組 LED
如今，傳統光源很大程度上已被基於 LED 的光源取代。許多情況下會安裝多個 LED，且會盡可能確保在這些 LED 具備相同的光學和電力特性。
這些半導體部件的特性取決於多個因素，包括精准設置層型結構及構成，因此 LED 之間的微小差異可能會對單個 LED 的光學和電力特性產生嚴重影響。必須準確確定每個 LED 的特性，並據此分組（分箱）。在生產過程中，LED 一般要接受多次測試，具體由製造商決定。這些測試一般在晶圓級（晶圓針測和測試）以及針對已完成、可供出售的 LED 實施。
LED 工序間的檢驗挑戰
在生產環境下，測量系統需要滿足嚴格的要求：
- 24/7 全天候使用，並保持高度可靠性
- 較短的測量時間，以實現高輸送量
- 精准控制測量時間（觸發時間）
- 能夠在系統與系統之間，高度再現結果
- 根據生產過程，專門調節測量套筒
解決方案：Instrument Systems 提供的 CAS 系列高端陣列光譜儀
優質陣列光譜儀已廣泛用於對 LED 實施精准光學測量。Instrument Systems 提供的 CAS 140D/CAS 120 系列可一次性測量所有光譜，並從光譜中獲取所有光學值。整個光學測量完成只需幾毫秒。CAS 系列光譜儀幾乎不包含任何活動部件，所以非常可靠，無需過多維護。
生產過程精細，且按國家標準（例如 PTB 或 NIST）實施校準，因此確保了測量結果的可比較性。此外，Instrument Systems 還開發了廣泛的測量套筒產品組合，搭配豐富的配件，可以滿足各種生產要求。
與國際 LED 製造商建立合作
多年以來，Instrument Systems 一直與大型 LED 製造商及其集成商合作。LED 測試系統全球安裝數量多達數千台儀器。
我們在以下領域擁有豐富的專業知識，能夠説明生產客戶獲益：
- 經證明適合生產環境的光譜儀測量系統產品組合 (CAS 140D, CAS 120)
- 測量任務的計量澄清
- 本地、異地和現場校準
- 監控和審查程式
- 校準源供應
- 並行測量
- 全球服務網路
您面臨著哪些特有的挑戰？我們將和您一起尋找合適的解決方案——敬請垂詢！
LED multi-chip testing
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