直播课预告:快速测试晶圆上µLED及微显示器的方法

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2023.3.22

2023年起, 德国国家认可机构(DAkkS)扩大了Instrument Systems 的认可范围,使我们能在客户的LGS, DMS及AMS测角仪安装场地为DSP系列光度计进行符合ISO 17025标准的测试及调整,並提供测试证书。

此外,3月和4月,我们分別将在德国电子显示会议(EDC)和中国国际显示技术会议(ICDT)上,分享关于显示器检测和µLED 及微显示器检测的最新技术报告。更多细节请参见下文。期待您的参加!

-INVITATION-

\\  国际显示技术会议ICDT邀请演讲: 

《快速测试晶圆上µLED及微显示器的方法》

时间:4月2日| 17:10-17:30 (在缐直播) 
论坛24:Micro-LED 工艺和评估 
讲者:Dr. Tobias Steinel
 

精彩内容:

MicroLED显示器具有对比度高、响应时间快速、色域广泛、低功耗和使用寿命长等特点,因此是备受业界期待的新一代显示技术。然而,MicroLED技术在光学质量控制方面很具挑战性,尤其是窄带MicroLED。在演讲中,TobiasSteinel博士将说明如何通过软件,在晶圆或显示器图像上查找、定位及分析单个发射器。以及如何通过高速演算法,为每个发射器提供准确的光学计量参数。

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-INVITATION-

\\   EDC 2023: 

Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology

在2023年的EDC纽伦堡电子显示会议上,Instrument Systems将就“全局和磙动快门图像伪影的特征及预防”这一主题发表演讲。我们的产品经理Andreas Liebel将讨论光度计相机的快门类型对图像伪影的影响,並提出解决方法,以确保在高精度显示器测试时避免这些伪影。现代的高端显示器具有动态调节刷新率和脉冲宽度的特性,以节约能源並根据屏幕内容动态调整。这些特点为显示测试系统提出了新的挑战,並可能导致图像伪影的产生。

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-INVITATION-

\\  在客户设备的安装现场进行符合ISO 17025标准的测试服务

自2023年1月起,Instrument Systems提供其LGS和AMS大型测角仪设备在客户现场的安装位置进行ISO 17025合规光强度的测试服务。这样,即使DSP 200和DSP 10光度计在运行地点进行测试和校准,客户也可以获得符合ISO 17025标准的测试证书。

 

以前,现场测试的认可仅适用于Instrument Systems的DMS显示测量系统。德国IS光测的客户现在可以在自己的运行场所对DSP 200和DSP 10光度计进行测试和调整,並获得符合ISO 17025标准的测试证书。这意味着质量控制和COP测试可以持续进行,而不必中断操作並将设备拆卸送回原厂。认证的具体范围请见DAkkS证书。

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-INVITATION-

\\   Information Display 杂志专访企业故事
在过去的六十年里,发光器件如发光二极管(LED)经歷了一个激动人心的演变。它们从指示灯和数码显示器中微弱的红光开始,发展到点亮电视屏幕,並成为照明家庭和街道的白光。

 

从一开始,总部位于慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的发展及其蓬勃发展的应用领域。Instrument Systems成立于1986年,是由Richard Distl在赢得德国青年研究竞赛后所创办。现在则是高精度光谱仪、定制系统和用于光谱光测量的软件解决方案的领先光学设备制造商......

采访内容由Prachi Patel发表在InformationDisplay 1/23。

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我们的测量团队很乐意就您的特定应用提供专业建议,请随时向我们谘询:[email protected]
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