‌邀请函 | 精恩光学邀您共赴CIOE光博会

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2025.9.1

第26届中国国际光电博览会(CIOE)将于2025年9月10-12日在深圳国际会展中心举办。作为全球光电全产业链旗舰展会,本届汇聚全球3800+企业,聚焦信息通信、精密光学、摄像头技术及应用、激光制造、红外紫外、智能传感、新型显示及AR/VR等八大前沿领域。

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CIOE中国光博会与SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展(SEMI-e)将同期举办,共同打造30万㎡光电技术与半导体产业链的盛宴。

 

双展同期将全面覆盖‌集成电路、分立器件、光电子器件、传感器‌四大半导体核心领域,深度完善半导体产业链布局,共同服务于显示、数据中心、汽车等多个交叉领域的广泛观众。

 

Instrument Systems携手精恩光学Giant亮相本次展会,为您提供精确测量OLED/microLED显示屏、AR/VR近眼显示器、VCSEL/IR激光源、车载显示器及照明等的系统解决方案。诚邀各界朋友、专家莅临参观我们展位,沟通交流,共探光电技术。

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展位信息

 

时间:2025年9月10-12日

地址:深圳国际会展中心 (广东省深圳市宝安区福海街道展城路1号)

展馆:3号馆(精密光学展&摄像头技术及应用展)

展位:3A40-9

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展示重点

 

CAS 140D 高精度阵列光谱仪

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CAS 140D 是IS光测推出的第四代阵列式光谱仪,仪器采用经过验证的交叉 Czerny-Turner 结构,内置带冷却功能的 CCD 探测器,在提升测量效率的同时,有助于实现稳定且可重复的测量结果,并具备良好的杂散光抑制效果和短积分时间,适用于多种对光谱分析精度有较高要求的应用场景。

 

LumiTop X20 / X30 - 高分辨率成像色度计

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20 MP 及 31 MP 的高速成像亮度与色度测量,支持从 mcd/m² 到 Mcd/m² 的宽动态范围;适用于低亮度测量,具备优化的灵敏度表现;配备高精度的电子自动对焦功能;评估亮度与色彩均匀性、Mura、像素缺陷、对比度、伽马曲线、白点、闪烁和亮度调制,同时可进行中心点的光谱分析;测量时间低于 1 秒,适用于 生产线测试。

 

LumiTop X150 - 用于亚像素级显示测量的高分辨率系统

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LumiTop X150 搭载 150 MP RGB 图像传感器,并结合 2×2 像素位移技术,可生成高达 600 MP的 X、Y、Z 图像,适用于 MicroLED 和 OLED 等高分辨率显示器的二维光学测量。 该系统支持在亚像素级别进行亮度与色度的图像分析,有助于实现显示校准、像素缺陷检测等应用。 基于成熟的 LumiTop 设计,X150 在提升成像精度的同时兼顾测量效率,适用于生产测试与研发验证等多种使用场景。

 

CoboTop - 面向 AR/VR 测试的自动化解决方案

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CoboTop 是一款基于协作机器人(cobot)的自动化测试平台,由 Instrument Systems 与柯尼卡美能达旗下的 CoboSense 团队联合开发,结合 TOP 300 光学探头,实现近眼显示器的自动化测量流程。该系统适用于 AR/VR   设备的生产和质控环节,可提升测试效率、重复性和操作一致性,为显示制造商带来更可靠的测量支持。

 

LumiTop AR/VR 近眼显示器量测系统

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LumiTop 5300 AR/VR 配备 2400 万像素高分辨率成像传感器和直视镜头,适用于在显示屏安装至头戴设备前进行二维测量,满足特定生产环境下的测试需求。光谱增强型 LumiTop 4000 AR/VR(1200 万像素)搭载潜望式镜头,可实现对已安装在头戴设备中的 AR/VR 显示屏进行双眼视角的平行测量,适合用于成品设备的 2D 显示性能验证。

 

同期活动

 

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同期超90场会议,产、学、研、用四位一体助你看发展!中国国际光电高峰论坛包括产业论坛、CIOE&YOLE国际论坛、光+应用论坛及OGC全球光电大会,产业、学术、终端大咖都在这里!其中,产业论坛议题涵盖信息通信、光学、激光、红外、量子等板块。

 

部分论坛列表......

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预约参观

 

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精恩光学深耕光学领域十余载,致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示,更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破,还是探索合作可能,精恩团队都已整装待发,期待与您共话光测未来!

 

我们期待在2025CIOE中国光博会与您相见!

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